天游线路检测中心 兼容设备
电子显微镜相关
科学和测量仪器服务部合同组
扫描电子显微镜
扫描电子显微镜 (SEM) 合同设备规格
| 型号名称 | 枪 | 探测器 | 选项 | |
|---|---|---|---|---|
| FE-SEM | JSM-IT800SHL | 肖特基 | SED、SBED、UED、超高清 | Gather-X Dry SD™ 无窗 EDS无大气暴露液体观察支架 |
| JSM-IT800HL | 肖特基 | SED、RBED、UED、美元 | 无大气暴露EBSD检测器（Velocity，EDAX制造）加热阶段加热和冷却阶段拉伸阶段液体观察支架 | |
| JSM-7200F | 肖特基 | SED、RBED、UED、美元 | 无大气暴露EBSD 检测器 (EDAX Digiview)加热阶段加热和冷却阶段拉伸阶段液体观察支架 | |
| JSM-7100F | 肖特基 | SED、RBED、UED、美元、TED | 非大气暴露冷冻台液体观察支架 | |
| JSM-IT500HR/LA | 肖特基 | SED、床 | 液体观察支架 | |
| W-SEM | JSM-IT300LA | W | SED、床 | 液体观察支架 |
所有型号均配备 JEOL 的 EDS 检测器 (JED)。
SEM专用观察台支架
加热：TSL Solutions制造（室温 - 500℃，室温 - 1000℃），Protochips制造（室温 - 1200℃）
Cryo：JEOL 制造
加热和冷却：德本制造（±50℃）
张力：TSL Solutions 制造（~1500N）
液体
透射电子显微镜
透射电子显微镜 (TEM) 合同设备规格
| 型号名称 | 枪 | 加速电压 | Cs 校正器 | 相机 | 科学、技术、数学探测器 | EDS 探测器分析仪 | 选项 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| JEM-ARM200FNEOARMex | 冷-FEG | 200kV120kV80kV60kV | 科学、技术、工程和数学 | 清晰视图（由 Gatan 制造） | ADFABFBFBEI | 158毫米2（2 件）JED | 带有 Stela 的 Continuum ER（由 Gatan 制造）EDM基础版（IDES制造）4D-STEM(STEMx)(加坦)高速扫描系统（JEOL制造） |
| JEM-2100F | 肖特基 | 200kV | - | USC1000XP（由 Gatan 制造） | ADFBF | 100毫米2(1 件)JED | ASTAR/Topspin（NanoMEGAS 制造） |
| JEM-1400Plus | 实验室6或 W | 120kV | - | 闪光灯 CMOS 相机（日本电子制造） | - | - | - |
特殊支架
加热：Fusion DT/Protochips/室温至1200℃
冷却：Gatan636/Gatan公司/室温至液氮温度
液体：Poseidon200/Protochips
非曝光观察：非曝光转印支架/JEOL制造
非曝光冷却观察：Double Tilt LN2 Atoms Defend Holder/Melbuild
3D结构分析断层扫描：TEMography/SIF制造
电子探针微量分析仪 (EPMA)
电子探针显微分析仪 (EPMA) 合同设备规格
| 型号名称 | 枪 | EDS 探测器 | 选项 |
|---|---|---|---|
| JXA-iHP200F | 肖特基 | 30毫米2 | 大型LNT※ |
| JXA-8230 | W | 10毫米2 | 大型LNT※透射照明 |
大型 LNT 用于分析液氮阱中的痕量 C。
基本不支持原位观测等特殊观测和分析。
扫描探针显微镜
俄歇微探针(俄歇)
| 型号名称 | 枪 | 分析器 | 能量分辨率 | 注释 |
|---|---|---|---|---|
| JAMP-9510F | 肖特基 | 静电半球型 | CRR模式：ΔE/E 005~06%CAE 模式：变量 | 离子枪卷轴非大气暴露绝缘体 |
聚焦离子束加工和观察装置（FIB）
聚焦离子束加工和观察系统 (FIB) 合同设备规格
| 型号名称 | 枪(SEM) | 探测器 | 地理信息系统 | 选项 |
|---|---|---|---|---|
| JIB-4700F | 肖特基 | RBEI | 西、西 | OmniProbe400（牛津仪器）非大气暴露 |
| JIB-4000 | - | - | C | - |
其他外设
质谱 (MS)
SI销售总部解决方案推进办公室合同分析推进小组
质谱仪
核磁共振 (NMR)
核磁共振装置
核磁共振 (NMR)
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