JEM-2100F配备场发射电子枪（FEG），可产生高亮度、高相干、高稳定的电子束，可以轻松观察和分析纳米级超高分辨率图像。此外，通过使用PC的网络功能，可以与各种分析设备和成像设备连接。
功能
集成 TEM 对于高分辨率观察和纳米域分析至关重要
配备高亮度、高稳定性场发射电子枪。高倍率下的结构分析和纳米域分析很容易。
探针直径可以从μm量级到最小直径05 nm。纳米级分析点的最终分析很容易。
新型侧入式测角仪
可以轻松改变样品的倾斜、旋转、加热和冷却等物理条件，从而使纳米级分析成为可能。
智能化
此设计将图像观察室窥器与 PC 控制环境相结合。
规格/选项
| 版本 | 超高分辨率 | 高分辨率 | 样品高度倾斜 | 样品冷却 | 高对比度 |
|---|---|---|---|---|---|
| 极片 | URP | 辣根过氧化物酶 | HTP | CRP | HCP |
| 分辨率 | |||||
| 粒子图像 | 019纳米 | 023纳米 | 025纳米 | 027纳米 | 031纳米 |
| 格子图像 | 01纳米 | 01纳米 | 01纳米 | 014纳米 | 014纳米 |
| 加速电压 | 160kV、200kV※1 | ||||
| 最小可变宽度 | 50V | ||||
| 电子枪 | |||||
| 发射方式 | ZrO/W(100) | ||||
| 亮度 | ≧4×108安／厘米2/sr | ||||
| 真空度 | ×10-8霸令 | ||||
| 探头电流 | 05 nA以上（探头直径1 nm） | ||||
| 电源稳定性 | |||||
| 高压电源 | ≦1×10-6／分钟 | ||||
| 物镜 | ≦1×10-6／分钟 | ||||
| 物镜 | |||||
| 焦距 | 19 毫米 | 23毫米 | 27 毫米 | 28 毫米 | 39 毫米 |
| 球差系数 | 05毫米 | 10 毫米 | 14毫米 | 20毫米 | 33毫米 |
| 色差系数 | 11毫米 | 14毫米 | 18 毫米 | 21毫米 | 30毫米 |
| 最小焦点可变量 | 10纳米 | 14纳米 | 18纳米 | 20纳米 | 52纳米 |
| 现货尺寸 | |||||
| TEM 模式 | 2～5纳米 | 7～30纳米 | |||
| EDS 模式 | 05～24纳米 | - | - | 4～20纳米 | |
| NBD 模式 | - | - | - | ||
| CBD模式 | 10～24纳米 | - | |||
| 会聚电子衍射 | |||||
| 会聚角 | 15～20毫拉德 | - | - | ||
| 进入角度 | ±10° | - | - | ||
| 放大倍数 | |||||
| MAG | ×2,000～1,500,000 | ×1,500～1,200,000 | ×1,200～1,000,000 | ×1,000～800,000 | |
| 低磁力 | ×50～6,000 | ×50～2,000 | |||
| SA MAG | ×8,000～800,000 | ×6,000～600,000 | ×5,000～600,000 | ×5,000～400,000 | |
| 摄像头 | |||||
| 选区衍射 | 80～2,000毫米 | 100～2,500毫米 | 150～3,000毫米 | ||
| 高色散衍射 | 4～80mm | ||||
| 高分辨率衍射※2 | 333 毫米 | ||||
| 机芯示例 | |||||
| X,Y | 2毫米 | 2毫米 | 2毫米 | 2毫米 | 2毫米 |
| Z | ±01毫米 | ±02毫米 | ±02毫米 | ||
| 倾斜角度 | |||||
| X／Y※3 | ±25/±25° | ±35/±30° | ±42/±30° | ±15/±10° | ±38/±30° |
| X※4 | ±25° | ±80° | ±80° | ±80° | ±80° |
| 科学、技术、工程和数学※5 | |||||
| 明场网格图像 | 02纳米 | - | - | ||
| 分辨率 | - | - | |||
| EDS（Si(Li)型检测器）※6 | |||||
| 立体角(30mm2) | 013 SR | 013 SR | 013 SR | ※8 | 009 sr |
| 立体角(50mm2)※7 | 024 SR | 028 SR | 023 SR | ||
| 取出角度(30mm2) | 25° | 25° | 25° | ※8 | 20° |
| 取出角度(50mm2)※7 | 22.3° | 24.1° | 25° | ||
使用80、100、120 kV时，使用加速管短接装置（可选）
使用高分辨率衍射室（可选）时
使用双轴倾斜支架时
使用高坡度保持器时
扫描图像观察装置可选
EDS 是可选的
日本电子 EDS 50mm2使用检测器时
无法安装 EDS
申请
与 JEM-2100F 相关的应用
陶瓷晶界原子电子结构及功能表达机制的阐明：高性能电子显微镜JEM-2100F/Cs Corrector的应用
成功定位锂离子：世界上首次通过金属离子观察、电子显微镜进行定位
图库
-
-
-
样品：氮化硼上的碳纳米管样品提供：日本国立材料科学研究所 Yoshio Bando 博士
-
示例：DRAM
相关产品
SightSKY 相机 (EM-04500SKY) 高灵敏度/低噪声光纤耦合 CMOS 相机
配备高灵敏度、低噪声、1900 万像素 CMOS 传感器，即使在少量入射电子的情况下也能呈现样品的细节并提供清晰的图像。
全局快门方法和高帧速率（58 fps/全像素模式）允许您在动态观察期间获取伪影受到抑制的图像系列。
相机系统控制软件“SightX”提供用户友好的操作性。
更多信息
