天游线路检测中心 场发射电子显微镜：JEM-2100F
JEM-2100F是采用JEOL电子光学技术新设计的高分辨率、高精度分析电子显微镜。采用场发射电子枪（FEG），亮度高，电子束强度稳定，实现高分辨率和高分析精度。此外，X射线检测立体角的显着改善提高了信号检测效率，有助于纳米尺度的元素分析。操作系统采用Windows® PC，简单、集成的操作系统即使是初学者也能轻松操作，提高实验效率。
JEM-2100F
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JEM-2100F是采用JEOL电子光学技术新设计的高分辨率、高精度分析电子显微镜。 采用场发射电子枪（FEG），亮度高，电子束强度稳定，实现高分辨率和高分析精度。此外，X射线检测立体角的显着改善提高了信号检测效率，有助于纳米尺度的元素分析。 Windows操作系统®采用PC，简单集成的操作系统即使初学者也能轻松操作，提高实验效率。 |
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功能
采用高亮度、高稳定性FEG
肖特基型FEG以05nA的束电流（束直径1nm）提供高亮度，并且具有高稳定性，电流波动率小于1%。该 FEG 在传统 JEM-2010F 中拥有超过 10 年的长期记录。
X射线检测效率高
新设计的X射线探测机构实现了024sr的高探测立体角。这大大提高了 X 射线元素分析的灵敏度。
Windows®简单且与PC集成的操作系统
通常复杂的电子显微镜操作现在可以使用 Windows 进行®可以在 PC 的图形用户界面 (GUI) 屏幕上轻松完成。扫描透射电子显微镜 (STEM) 功能也被集成并在同一台 PC 上记录为数字图像。
性能
- 最大加速电压：200 kV
- 晶格分辨率：01 nm，点分辨率：019 nm，STEM 分辨率：02 nm
- 放大倍数：x50 - x1,500,000
- X射线检测立体角：024 sr
主要应用领域
- 高分辨率观察晶体结构图像、原子排列图像、细颗粒和纳米管的原子排列图像
- 形态观察材料、半导体、聚合物、生物组织的观察
- 电子衍射原子间距离的识别、晶体类型和晶体取向的分析
- 会聚电子衍射晶体鉴定、晶格缺陷/晶格畸变分析、样品厚度测量
- X射线分析样品中所含元素的定性和定量分析
- 电子能量分析样品中所含元素的定性分析、定量分析、化学态分析
- 洛伦兹显微镜磁性材料的磁畴和畴壁分析
- 电子束全息分析样品中的磁通量和电场分布
- 动态观察・・・・分析样品加热、冷却、张力等引起的相变和变形过程
- 3维断层扫描样品内部结构的3维测量
