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公司信息

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日本电子新闻

JEOL 新闻第 57 卷第 1 期,2025 年

JEOL 新闻第 57 卷第 1 期,2025 年

产品信息/外围设备/其他

产品信息

产品信息(无需注册)

电子显微镜相关周边设备

电子显微镜相关周边设备

生物/软材料研发支撑设备

生物/软材料研发支撑设备

透射电子显微镜 (TEM)

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻电子显微镜

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻电子显微镜

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) 场发射冷冻电子显微镜

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) 场发射冷冻电子显微镜

JEM-Z200CA (CRYO ARM™ 200) 场发射冷冻电子显微镜

JEM-Z200CA (CRYO ARM™ 200) 场发射冷冻电子显微镜

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 原子分辨率电子显微镜

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 原子分辨率电子显微镜

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 高分辨率 STEM 成像

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 高分辨率 STEM 成像

JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨率分析电子显微镜

JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨率分析电子显微镜

带 FEMTUS™ 的 JEM-F200

带 FEMTUS™ 的 JEM-F200

JEM-F200多功能电子显微镜

JEM-F200 多功能电子显微镜

JEM-2200FS 场发射透射电子显微镜

JEM-2200FS场发射透射电子显微镜

JEM-2100Plus 透射电子显微镜

JEM-2100Plus 透射电子显微镜

JEM-1400闪光电子显微镜

JEM-1400闪光电子显微镜

JEM-120i 电子显微镜

JEM-120i 电子显微镜

选项 (TEM)

远程控制系统信息

远程控制系统信息

SightSKY 相机 EM-04500SKY 高灵敏度/低噪声光纤耦合 CMOS 相机

SightSKY™ 相机 EM-04500SKY 高灵敏度/低噪声光纤耦合 CMOS

OBF系统

OBF系统

TEM-EDS 元素映射的快速无损漂移校正

TEM-EDS 元素映射的快速无损漂移校正

JEM-1400/JEM-1400Plus Flash版本升级

JEM-1400/JEM-1400Plus Flash版本升级

SAAF Octa分体式探测器(8分体式)

SAAF Octa分体式探测器(8分体式)

4DCanvas™ 像素型 STEM 探测器

4DCanvas™ 像素型 STEM 探测器

正窗芯片

正窗芯片

FEMTUS™ 集成分析平台 -EDS 版-

FEMTUS™ 集成分析平台 -EDS 版-

IDES 产品 (TEM)

IDES 产品目录

IDES 产品目录

IDES 应用说明对电子束 -沸石- 敏感的样品的 STEM 图像采集示例

IDES 应用说明 对电子束敏感的样品的 STEM 图像采集示例

IDES 应用笔记介绍消除反激造成的电子束损伤的 STEM 方法

IDES 应用说明

IDES 应用说明剂量绘制

IDES 应用说明剂量绘制

IDES 应用说明使用 EDM 同步减少 STEM 电子束损伤的示例

IDES 应用说明使用 EDM Synchrony 减少 STEM 电子束损伤的示例

IDES 应用说明使用 Relativity™ 进行亚毫秒时间分辨视频捕获

IDES 应用说明使用 Relativity™ 进行亚毫秒时间分辨视频捕获

IDES 应用说明使用 EDM 的时间分辨微分相差成像方法

IDES 应用说明使用 EDM 的时间分辨微分相差成像方法

IDES 应用说明通过消除反激引起的电子束损伤来验证 EDS 测绘的有效性

IDES 应用说明通过消除反激引起的电子束损伤来验证 EDS 测绘的有效性

扫描电子显微镜 (SEM)

SEM系列

  • 我们列出了所有最新型号的扫描电子显微镜。

SEM系列

SEM系列

FE-SEM

JSM-IT810肖特基场发射扫描电子显微镜

JSM-IT810肖特基场发射扫描电子显微镜

JSM-IT810自动功能介绍

JSM-IT810自动功能介绍

选项(FE-SEM)

Neo Comfort FE-SEM 隔音罩

Neo Comfort FE-SEM 隔音罩

Gather-X JED 系列干式 SD™ 无窗 EDS

Gather-X JED 系列干式 SD™ 无窗 EDS

软X射线发射光谱仪SXES-LR/ER,-LREP/EREP

软X射线发射光谱仪SXES-LR/ER,-LREP/EREP

软X射线光谱仪超级光谱仪SS-94000SXES/SS-94040SXSER

软X射线发射光谱仪超级光谱仪SS-94000SXES/SS-94040SXSER

软 X 射线发射光谱手册 90 版(2025 年 5 月)

软 X 射线发射光谱手册 90 版(2025 年 5 月)

SM-92100EUVC 准分子紫外线清洁剂

SM-92100EUVC 准分子紫外线清洁剂

miXcroscopy 光学显微镜/扫描电子显微镜链接系统

miXcroscopy 光学显微镜/扫描电子显微镜链接系统

OM-SEM 连接系统(miXcroscopy(TM) 系列)

OM-SEM 连接系统(miXcroscopy(TM) 系列)

使用 SEM 的阵列断层扫描方法

使用SEM的阵列断层扫描方法

超扁平碳 BIG

超扁平碳 BIG

JSM-IT800/IT810系列零件目录

JSM-IT800/IT810系列零件目录

FE-SEM 零件目录

FE-SEM 零件目录

通用 SEM

JSM-IT710HR 扫描电子显微镜

JSM-IT710HR 扫描电子显微镜

JSM-IT510 InTouchScope™ 扫描电子显微镜

JSM-IT510 InTouchScope™ 扫描电子显微镜

JSM-IT210 扫描电子显微镜

JSM-IT210 扫描电子显微镜

JCM-7000 NeoScope™ 台式扫描电子显微镜

JCM-7000 NeoScope™ 台式扫描电子显微镜

异物分析和材料识别的最佳桌面工具

异物分析和材料识别的最佳桌面工具

保证质量的最佳桌面工具

保证质量的最佳桌面工具

新 SEM 步行(动物版)

新 SEM 步行(动物版)

新 SEM 漫步(植物版)

新 SEM 漫步(植物版)

选项(通用 SEM)

JSM-IT710HR 扫描电子显微镜零件目录

JSM-IT710HR 扫描电子显微镜零件目录

JSM-IT210 扫描电子显微镜零件目录

JSM-IT210 扫描电子显微镜零件目录

JCM-7000 台式扫描电子显微镜

JCM-7000 台式扫描电子显微镜零件目录

离子束应用设备(FIB、CP)

聚焦离子束加工和观察装置(FIB)

JIB-PS500i FIB-SEM 系统

JIB-PS500i FIB-SEM 系统

JIB-4700F复合梁加工观察装置

JIB-4700F复合梁加工观察装置

选项 (FIB)

冷冻层压机

CRYO-FIB-SEM CryoLameller

OmniProbe350 FIB-SEM 样品室纳米操纵器

OmniProbe350 FIB-SEM 样品室纳米操纵器

IB-07080ATLPS、IB-77080ATLPS 自动TEM薄膜生产系统STEMPLING

IB-07080ATLPS、IB-77080ATLPS 自动TEM薄膜生产系统STEMPLING

离子束应用设备 JIB-46XXF / JIB-4700F / JIB-4000 / JIB-4000PLUS 的样品架和耗材

离子束应用设备JIB-46XXF / JIB-4700F / 的样品架和耗材

横截面样品制备装置(CP)

IB-19540CP/IB-19550CCP 横截面抛光机™

IB-19540CP/IB-19550CCP 横截面抛光机™

IB-10500HMS Cross Section Polisher™ 高通量铣削系统

IB-10500HMS Cross Section Polisher™ 高通量铣削系统

IB-19520CCP截面样品制备装置

IB-19520CCP截面样品制备装置

IB-19530CP Cross Section Polisher™ 横截面样品制备装置

IB-19530CP Cross Section Polisher™ 横截面样品制备装置

选项 (CP)

横截面抛光机™ 对准显微镜

横截面抛光机™ 对准显微镜

微区分析/表面分析设备(EPMA、Auger、XPS、ESCA)

  • EPMA 是电子探针显微分析仪的缩写。

电子探针微量分析仪 (EPMA)

JXA-iHP200F 肖特基型电子探针显微分析仪 JXA-iSP100 钨/LaB<sub>6</sub>电子探针显微分析仪

JXA-iHP200F肖特基电子探针微量分析仪
JXA-iSP1006电子探针微量分析仪

选项 (EPMA)

软X射线发射光谱仪SXES-LR/ER,-LREP/EREP

软X射线发射光谱仪SXES-LR/ER,-LREP/EREP

软X射线光谱仪超级光谱仪SS-94000SXES/SS-94040SXSER

软X射线发射光谱仪超级光谱仪SS-94000SXES/SS-94040SXSER

软 X 射线发射光谱手册 90 版(2025 年 5 月)

软 X 射线发射光谱手册 90 版(2025 年 5 月)

EPMA-XRF 集成系统

EPMA-XRF 集成系统

JXA-iSP100 / JXA-iHP200F 电子探针显微分析仪的样品架和耗材

JXA-iSP100 / JXA-iHP200F 电子探针显微分析仪的样品架和耗材

螺旋微探针(螺旋)

JAMP-9510F 场发射螺旋微探针

JAMP-9510F 场发射螺旋微探针

选项(螺旋钻)

光谱图像 JAMP-9510F / 9500F

光谱图像 JAMP-9510F / 9500F

光电子能谱仪(XPS、ESCA)

JPS-9030光电子能谱仪

JPS-9030光电子能谱仪

核磁共振 (NMR)

核磁共振波谱仪ECZ Luminous™(JNM-ECZL系列)FT核磁共振仪

核磁共振波谱仪ECZ Luminous™(JNM-ECZL系列)FT核磁共振仪

固态核磁共振

固态核磁共振

核磁共振解决方案

核磁共振解决方案

ECZ Luminous™ 系列配件目录

ECZ Luminous™ 系列配件目录

NMR制冷剂蒸发抑制装置

NMR制冷剂蒸发抑制装置

NR50(NMR 液氮抑制器)

NR50(NMR 液氮抑制器)

NS20WJ(NMR液氮供给装置)

NS20WJ(NMR用液氮供给装置)

ROYAL Probe™ P+ 高灵敏度多核溶液 NMR 探针

ROYAL Probe™ P+ 高灵敏度多核溶液 NMR 探针

皇家探针™ HFX

皇家探针™ HFX

皇家探针™ 自动机

皇家探针™ 自动机

超酷漫威

超酷漫威

高通量固态核磁共振

高通量固态核磁共振

NMR 数据处理软件 Delta NMR 软件处理

NMR 数据处理软件 Delta NMR 软件处理

杰森软件

杰森软件

JEOL NMR远程控制环境搭建示例介绍

JEOL NMR远程控制环境搭建示例介绍

JEOL NMR 数据完整性支持

JEOL NMR 数据完整性支持

NMR 可以做什么

NMR 可以做什么

分析结果的可靠性是否得到保证?

分析结果的可靠性是否得到保证?

短期强化NMR课程(WEB研讨会视频合集)

短期强化NMR课程(WEB研讨会视频合集)

Delta SpecScan-Daily ECZ/ECZL系列日常巡检软件

Delta SpecScan-Daily ECZ/ECZL系列日常巡检软件

NM/MS 有机化学解决方案

NM/MS 有机化学解决方案

SuperCOOL探头超高灵敏度低温溶液探头

SuperCOOL探头超高灵敏度低温溶液探头

电子自旋共振 (ESR)

JES-X3系列ESR装置

JES-X3系列ESR装置

选项 (ESR)

电子自旋谐振器 (ESR) JES-X3 系列附件

电子自旋谐振器 (ESR) JES-X3 系列附件

ES-13070VT400 温度可变装置

ES-13070VT400 温度可变装置

X 射线荧光分析仪 (XRF)

JSX-1000S 能量色散 X 射线荧光光谱仪 (XRF)

JSX-1000S 能量色散 X 射线荧光光谱仪 (XRF)

选项 (XRF)

低真空液体样品舱

低真空液体样品舱

异物分析通用支架

异物分析通用支架

能量色散 X 射线荧光光谱仪 (XRF) 零件目录

能量色散 X 射线荧光光谱仪 (XRF) 零件目录

质谱仪 (MS)

GC-MS、气体分析 MS

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta 气相色谱四极杆质谱仪

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta 气相色谱四极杆质谱仪

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 高性能气相色谱仪飞行时间质谱仪

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha

JMS-TQ4000GC 气相色谱仪三重四极杆质谱仪

JMS-TQ4000GC UltraQuad™ TQ 气相色谱仪三重四极杆质谱仪

JMS-800D 二恶英分析质谱仪

JMS-800D 二恶英分析质谱仪

选项(GC-MS、气体分析 MS)

msFineAnalysis AI ver3 未知材料结构分析软件

msFineAnalysis AI ver3 未知材料结构分析软件

msQuantEye GC-MS 定量分析软件

msQuantEye GC-MS 定量分析软件

HS/GC/MS 监测系统

HS/GC/MS 监测系统

TQ-DioK 二恶英分析程序

TQ-DioK 二恶英分析程序

顶空自动进样器 MS-62071STRAP HS

顶空自动进样器 MS-62071STRAP HS

终极热分析工具TG-TOFMS

终极热分析工具TG-TOFMS

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 石油石化解决方案(英文版)

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 石油和

与 JEOL GC-HRTOFMS 结合的综合 2D GC:GCxGC 应用(英文版)

综合 2D GC 与 JEOL GC-HRTOFMS 结合使用:

气体分析气体分析解决方案

气体分析气体分析解决方案

TD100-xr 热解吸自动进样器

TD100-xr 热脱附自动进样器

LC-MS (DART-MS)、MALDI-TOFMS

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express 大气压电离飞行时间质谱仪

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express 大气压电离飞行时间质谱仪

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 30 基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 30

选项(LC-MS (DART-MS)、MALDI-TOFMS)

msRepeatFinder Ver8 聚合物分析软件

msRepeatFinder Ver8 聚合物分析软件

MALDI-TOFMS成像系统JEOL×SCiLS

MALDI-TOFMS成像系统JEOL×SCiLS

NMR 样品溶液的精确质量 MS 测量!

NMR 样品溶液的精确质量 MS 测量!

MS 指南

了解并使用它! ! GC-MS 指南

了解并使用它! ! GC-MS 指南

JEOL GC-MS 预处理方法指南

JEOL GC-MS 预处理方法指南

电离方法指南

电离方法指南

电离方法指南 2

电离方法指南 2

MS 解决方案

高分子材料分析解决方案

高分子材料分析溶液

测量设备

超小型单晶结构分析平台XtaLAB Synergy-ED

超小型单晶结构分析平台XtaLAB Synergy-ED

μCT系列X射线CT显微系统(材料)

μCT系列X射线CT显微系统(材料)

μCT50 X射线显微CT装置

μCT50 X射线显微CT装置

GC-8610T/310C 便携式气相色谱仪系列

GC-8610T/310C便携式气相色谱仪系列

半导体制造设备

JBX-A9系列电子束光刻系统

JBX-A9系列电子束光刻系统

JBX-8100FS系列电子束光刻系统

JBX-8100FS系列电子束光刻系统

SB-89010EUVC 准分子紫外线清洁剂

SB-89010EUVC 准分子紫外线清洁剂

电子束金属3D打印机(AM)

JAM-5200EBM电子束金属3D打印机

JAM-5200EBM电子束金属3D打印机

JEOL 增材制造新技术信息

JEOL 增材制造新技术

拍摄相关设备/素材制作设备

JEOL工业设备总目录

JEOL工业设备总目录

沉积相关设备(电子枪、等离子源等)

BS/JEBG系列电子枪/JST/BS-ICE系列电源

BS/JEBG系列电子枪/JST/BS-ICE系列电源

BS-60310BDS 轰击沉积源

BS-60310BDS 轰击沉积源

BS-60610BDS 轰击沉积源

BS-60610BDS 轰击沉积源

研发用电子束蒸发设备

研发用电子束蒸发设备

BS-60250DEM电子枪

BS-60250DEM电子枪

BS-800系列/BS-920系列等离子源/等离子辅助电源

BS-800系列/BS-920系列等离子源/等离子辅助电源

BS-04系列旋转传感器

BS-04系列旋转传感器

JEBG系列线性电子枪/电源

JEBG系列线性电子枪/电源

TP-99260FDR送粉装置

TP-99260FDR送粉装置

TP-99140FDR送粉装置

TP-99140FDR送粉装置

材料生产设备(纳米粒子合成/纳米粒子表面改性/电子束熔化)

高频感应热等离子体装置

高频感应热等离子体装置

TP-40020NPS高频感应热等离子体纳米粒子合成仪

TP-40020NPS高频感应热等离子体纳米粒子合成仪

TP-99260FDR送粉装置

TP-99260FDR送粉装置

TP-99140FDR送粉装置

TP-99140FDR送粉装置

JEBG系列线性电子枪/电源

JEBG系列线性电子枪/电源

医疗设备

生化自动分析仪

BioMajesty 系列生化自动分析仪系列

BioMajesty 系列生化自动分析仪系列

JCA-ZS050生化自动分析仪

JCA-ZS050生化自动分析仪

JCA-BM6010G生化自动分析仪

JCA-BM6010G生化自动分析仪

JCA-BM6050生化自动分析仪

JCA-BM6050生化自动分析仪

BioMajesty6070G生化自动分析仪

BioMajesty6070G生化自动分析仪

JCA-BM9130生化自动分析仪

JCA-BM9130生化自动分析仪

BioMajesty8000GX生化自动分析仪

BioMajesty8000GX生化自动分析仪

生物化学/免疫学桥梁模块

生物化学/免疫学桥梁模块

临床实验室信息处理系统

JCS-60L CLALIS™ 11 临床实验室信息处理系统

JCS-60L CLALIS™ 11 临床实验室信息处理系统

JCS-60L CLALIS™ Link Plus 11 扩展数据处理系统

JCS-60L CLALIS™ Link Plus 11 扩展数据处理系统

横串

LIBnote 锂离子电池注释

LIBnote 锂离子电池注释

固态电池注意

固态电池注意

汽车电池生产线环境检测:全自动异物颗粒检测系统

汽车电池生产线环境检测全自动异物颗粒检测系统

BatteryNote 电池笔记

BatteryNote 电池笔记

聚合物注释聚合物注释

聚合物注释聚合物注释

Foodnote 食品分析解决方案

Foodnote 食品分析解决方案

食品分析解决方案②

食品分析解决方案②

Bionote 生物溶液

Bionote 生物溶液

CryoNote 冷冻笔记

CryoNote 冷冻笔记

生物照片 SEM 生物照片集

生物照片 SEM 生物照片集

CLEMnote 相关光学和电子显微镜笔记

CLEMnote 相关光学和电子显微镜

可持续材料注意

可持续材料注释

UrushiNote 学习用漆进行高分子材料分析

UrushiNote 了解高分子材料的清漆分析

阳极氧化膜

阳极氧化膜

生命科学笔记

生命科学笔记

化学分析设备综合目录

化学分析设备综合目录

半导体注释

半导体注释

安装环境措施

尖端科学设备安装环境技术

尖端科学设备安装环境技术(无需注册)

磁场对策信息

磁场对策信息(无需注册)

振动对策信息

振动对策信息(无需注册)

有关温度波动对策的信息

有关温度波动对策的信息(无需注册)

实验室环境咨询信息

实验室环境咨询信息(无需注册)

相关产品(安装环境措施)

FS-78210AMC 用于科学设备的主动磁场消除系统

FS-78210AMC 用于科学设备的主动磁场消除系统(无需注册)

DS-78600CWS科学仪器循环水恒温箱

DS-78600CWS科学仪器循环水恒温箱(无需注册)

EST-L6HF-A017 JEM-ARM300F2 主动隔振系统

EST-L6HF-A017 JEM-ARM300F2 主动隔振系统(无需注册)

EST-L6H-4700-01 NEOARM 主动隔振系统

EST-L6H-4700-01 NEOARM 主动隔振系统(无需注册)

适用于 JEM-ARM300F 的 TCN300XNL 主动隔振系统

JEM-ARM300F 的 TCN300XNL 主动隔振系统(无需注册)

带抗震凝胶垫“J-mat”的设备固定支架

带有抗震凝胶垫“J-mat”的设备固定支架(无需注册)

维护合同

维护合同信息

维护合同信息(无需注册)

培训

学习信息

学习信息(无需注册)

课程信息

课程信息(无需注册)

NMR培训课程信息

NMR培训课程信息(无需注册)

加强服务

升压服务信息

桥接服务

桥接服务信息

委托分析

合约分析信息(显微镜相关)

合约分析信息(显微镜相关)(无需注册)

委托分析信息

委托分析信息(无需注册)

您了解 MS 和 NMR 制造商 JEOL 的合同分析吗?

您了解 MS 和 NMR 制造商 JEOL 的合同分析吗?(无需注册)

使用高分辨率 μCT 进行 3D 契约分析的提案

使用高分辨率 μCT 进行 3D 契约分析的提案(无需注册)

固定价格全额支持计划(租赁服务)

固定价格全额支持计划(租赁服务)

固定价格全额支持计划(租赁服务)(无需注册)

共享服务

分析设备也可作为共享服务

分析设备也可作为共享服务(无需注册)

共享服务JEM-ARM200F NEOARMex

共享服务JEM-ARM200F NEOARMex(无需注册)

共享服务核磁共振装置

共享服务核磁共振装置(无需注册)

分析器订阅服务 (JEOL-rento)

JEOL-rento

JEOL-rento

CP 配方支持信息(横截面样品制备装置 Cross-section Polisher™)

CP 配方支持信息(横截面样品制备装置 Cross-section Polisher™)

CP 配方支持信息(横截面样品制备装置 Cross-section Polisher™)

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