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公司信息
日本电子新闻
JEOL 新闻第 57 卷第 1 期,2025 年
产品信息/外围设备/其他
透射电子显微镜 (TEM)
CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻电子显微镜
JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) 场发射冷冻电子显微镜
JEM-Z200CA (CRYO ARM™ 200) 场发射冷冻电子显微镜
JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 原子分辨率电子显微镜
JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 高分辨率 STEM 成像
JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨率分析电子显微镜
选项 (TEM)
SightSKY™ 相机 EM-04500SKY 高灵敏度/低噪声光纤耦合 CMOS
JEM-1400/JEM-1400Plus Flash版本升级
IDES 产品 (TEM)
IDES 应用说明 对电子束敏感的样品的 STEM 图像采集示例
IDES 应用说明使用 EDM Synchrony 减少 STEM 电子束损伤的示例
IDES 应用说明使用 Relativity™ 进行亚毫秒时间分辨视频捕获
IDES 应用说明使用 EDM 的时间分辨微分相差成像方法
IDES 应用说明通过消除反激引起的电子束损伤来验证 EDS 测绘的有效性
扫描电子显微镜 (SEM)
SEM系列
FE-SEM
选项(FE-SEM)
Gather-X JED 系列干式 SD™ 无窗 EDS
软X射线发射光谱仪SXES-LR/ER,-LREP/EREP
软X射线发射光谱仪超级光谱仪SS-94000SXES/SS-94040SXSER
软 X 射线发射光谱手册 90 版(2025 年 5 月)
miXcroscopy 光学显微镜/扫描电子显微镜链接系统
OM-SEM 连接系统(miXcroscopy(TM) 系列)
通用 SEM
JSM-IT510 InTouchScope™ 扫描电子显微镜
JCM-7000 NeoScope™ 台式扫描电子显微镜
选项(通用 SEM)
离子束应用设备(FIB、CP)
聚焦离子束加工和观察装置(FIB)
选项 (FIB)
CRYO-FIB-SEM CryoLameller
OmniProbe350 FIB-SEM 样品室纳米操纵器
IB-07080ATLPS、IB-77080ATLPS 自动TEM薄膜生产系统STEMPLING
离子束应用设备JIB-46XXF / JIB-4700F / 的样品架和耗材
横截面样品制备装置(CP)
IB-19540CP/IB-19550CCP 横截面抛光机™
IB-10500HMS Cross Section Polisher™ 高通量铣削系统
IB-19530CP Cross Section Polisher™ 横截面样品制备装置
选项 (CP)
微区分析/表面分析设备(EPMA、Auger、XPS、ESCA)
电子探针微量分析仪 (EPMA)
JXA-iHP200F肖特基电子探针微量分析仪JXA-iSP1006电子探针微量分析仪
选项 (EPMA)
软X射线发射光谱仪SXES-LR/ER,-LREP/EREP
软X射线发射光谱仪超级光谱仪SS-94000SXES/SS-94040SXSER
软 X 射线发射光谱手册 90 版(2025 年 5 月)
JXA-iSP100 / JXA-iHP200F 电子探针显微分析仪的样品架和耗材
螺旋微探针(螺旋)
选项(螺旋钻)
光电子能谱仪(XPS、ESCA)
核磁共振 (NMR)
核磁共振波谱仪ECZ Luminous™(JNM-ECZL系列)FT核磁共振仪
ROYAL Probe™ P+ 高灵敏度多核溶液 NMR 探针
NMR 数据处理软件 Delta NMR 软件处理
Delta SpecScan-Daily ECZ/ECZL系列日常巡检软件
电子自旋共振 (ESR)
选项 (ESR)
电子自旋谐振器 (ESR) JES-X3 系列附件
X 射线荧光分析仪 (XRF)
JSX-1000S 能量色散 X 射线荧光光谱仪 (XRF)
选项 (XRF)
能量色散 X 射线荧光光谱仪 (XRF) 零件目录
质谱仪 (MS)
GC-MS、气体分析 MS
JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta 气相色谱四极杆质谱仪
JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha
JMS-TQ4000GC UltraQuad™ TQ 气相色谱仪三重四极杆质谱仪
选项(GC-MS、气体分析 MS)
msFineAnalysis AI ver3 未知材料结构分析软件
JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 石油和
综合 2D GC 与 JEOL GC-HRTOFMS 结合使用:
LC-MS (DART-MS)、MALDI-TOFMS
JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express 大气压电离飞行时间质谱仪
JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 30
选项(LC-MS (DART-MS)、MALDI-TOFMS)
msRepeatFinder Ver8 聚合物分析软件
MALDI-TOFMS成像系统JEOL×SCiLS
MS 指南
MS 解决方案
测量设备
超小型单晶结构分析平台XtaLAB Synergy-ED
半导体制造设备
电子束金属3D打印机(AM)
拍摄相关设备/素材制作设备
沉积相关设备(电子枪、等离子源等)
BS/JEBG系列电子枪/JST/BS-ICE系列电源
BS-800系列/BS-920系列等离子源/等离子辅助电源
材料生产设备(纳米粒子合成/纳米粒子表面改性/电子束熔化)
TP-40020NPS高频感应热等离子体纳米粒子合成仪
医疗设备
生化自动分析仪
临床实验室信息处理系统
JCS-60L CLALIS™ 11 临床实验室信息处理系统
JCS-60L CLALIS™ Link Plus 11 扩展数据处理系统
横串
安装环境措施
相关产品(安装环境措施)
FS-78210AMC 用于科学设备的主动磁场消除系统(无需注册)
DS-78600CWS科学仪器循环水恒温箱(无需注册)
EST-L6HF-A017 JEM-ARM300F2 主动隔振系统(无需注册)
EST-L6H-4700-01 NEOARM 主动隔振系统(无需注册)
JEM-ARM300F 的 TCN300XNL 主动隔振系统(无需注册)
带有抗震凝胶垫“J-mat”的设备固定支架(无需注册)
维护合同
培训
委托分析
您了解 MS 和 NMR 制造商 JEOL 的合同分析吗?(无需注册)
使用高分辨率 μCT 进行 3D 契约分析的提案(无需注册)
固定价格全额支持计划(租赁服务)
共享服务
共享服务JEM-ARM200F NEOARMex(无需注册)
分析器订阅服务 (JEOL-rento)
CP 配方支持信息(横截面样品制备装置 Cross-section Polisher™)
CP 配方支持信息(横截面样品制备装置 Cross-section Polisher™)