JEM-ACE200F 是一款与系统兼容的电子显微镜，通过创建操作流程配方，操作员无需直接操作电子显微镜即可获取数据。集成了高端电子显微镜JEM-ARM200F和通用FE-TEM JEM-F200的硬件技术，实现了高稳定性和高分辨率，并以全新精密设计首次亮相。
功能
主平台
可配备Cs校正装置，CFEG
比现有电机驱动控制快3倍的高速、高精度平台，能够进行与压电驱动控制相当的精细运动控制
操作简单
-
即使您没有 TEM 操作经验，也可以直观地操作
- 通过依次点击屏幕上的按钮即可获得最终图像，最大限度地减少使用控制面板的操作次数
- 也可以使用鼠标进行焦距调整等
- 可与Gatan相机集成
-
自动调整功能
- 自动对焦、自动散光、自动样品高度调整、自动光束居中、自动定向等
自动数据采集功能
-
可以使用配方自动获取数据
- TEM 图像、STEM 图像、元素图
- 支持网格上的多个样本
与长度测量软件链接
-
可以针对 TEM 侧的每个设定放大倍率校准放大倍数
- 可自动测量多台JEM-ACE200F采集的数据
远程控制
-
隔壁房间的操作
-
远程操作、多点同时观测（取决于网络环境）
- 可以在与多个企业讨论的同时进行同步观察
镜筒外壳提高了耐环境性能
有助于抑制噪音、气流和室温变化
可在内墙上安装吸音材料，采取额外的隔音措施
分析乐器分析工具到
-自动化STEM/TEM分析，有助于工艺改进和质量控制的稳定改进-
规格/选项
| TEM 分辨率（200kV 时） | 粒子图像≤021nm点阵图像01nm信息限≤011nm |
|---|---|
| STEM 分辨率（200kV 时） | 暗场透射电子扫描图像≤0136nm，带像差校正（可选）≤01nm明场透射电子扫描图像≤0136nm，带像差校正（可选）≤01nm |
| 电子枪 | 冷阴极场发射电子枪 (CFEG) |
| 加速电压 | 60kV～200kV（兼容200kV、80kV标准，其他加速电压可选） |
| 机芯示例 | X,Y±10mmZ±02mm |
| 倾斜角度示例 | TX/TY（双轴倾斜支架）±20°/±25°TX（专用高倾斜支架）±80° |
| 选项 | 日本电子100mm2SDD（双）、EELS、Cs 校正器、自动化中心、断层扫描 |
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