电子探针显微分析仪在钢铁、汽车、电子元件、电池材料等多种工业领域中作为研发和质量保证工具，其应用范围日益扩大。此外，它还广泛应用于地球与行星科学和材料科学的学术领域，有望为矿产资源和能源研究以及各种新材料的材料研究等多种前沿研究做出贡献。因此，要求每个人都能轻松、快速地使用设备，同时保持局部微量元素分析的高性能。JXA-iHP200F 和 JXA-iSP100 是集成的 EPMA，它们已进一步发展以满足这些需求并更有效地执行从观察到分析的操作。* EPMA 是电子探针显微分析仪的缩写。
功能
设置
自动加载可确保支架已加载！快速找到您想要观察的地方！
一键引入样品并获取样品架的光学图像（载物台导航图像）。您可以从阶段导航图像中指定分析字段。
分析
凭借丰富的自动功能，任何人都可以获得高质量的 SEM 图像使用 EPMA 轻松进行元素分析，所有麻烦的设置都交给您
通过将光学显微镜的自动对焦功能与配备新型高精度/高速系统的SEM的自动功能相结合，任何人都可以获得高品质的SEM图像。“实时分析”允许在观察期间进行筛选分析。我们准备了即使是初学者也能操作EPMA的“Easy EPMA”。通过“EPMA-XRF 集成”，现在可以根据 XRF 数据设置 EPMA 条件。通过 WD/ED 集成，现在可以提高分析时间的效率。通过集成 SEM、EDS、XRF、WDS 和光学图像，提高了可操作性。
简单的EPMA设置屏幕和数据显示
EDS 实时分析
通过 WD/ED 集成缩短分析时间的示例
集成：通过这些设备确定的元素可以通过触摸按钮与光谱晶体结合。
自我维护
内置18种校准样本，高效校准
光谱仪校准功能减少了常规光谱仪校准所需的工作，并避免了设置校准样品时的人为错误。通过夜间校准设备可以提高效率。“维护通知功能”确保在需要的时间进行维护，使设备保持在最佳状态。
内置18种校准样本
维护通知功能“客户支持工具”
配备镜内肖特基Plus电子枪的JXA-iHP200F
镜内肖特基 Plus 电子枪以低加速电压提供高分辨率，提供高放大倍率和高空间分辨率的 SEM 图像和分析结果。
热离子电子枪可以在高电流下长时间保持稳定性，在短时间内分析微量元素或通过过夜运行分析大量样品时非常有效。
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新闻稿(2019/9/3)
新型电子探针微量分析仪 JXA-iHP200F 和 JXA-iSP100 现已上市 - 进一步发展的集成 EPMA -
申请
与 JXA-iHP200F 相关的应用
软 X 射线发射光谱手册 70 版（2021 年 12 月）
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ED/WD 整合系统 ~ 从白丸矿山生产的样本中鉴定东京石 ~(663MB)
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