扫描探针显微镜（SPM）是一种用极其锋利的探针扫描样品表面，以高分辨率观察表面形状和表面物理性质的显微镜。随着纳米技术的最新发展，SPM正在被应用于各个领域。JSPM-5200充分利用了SPM的功能。
功能
用于观察原子和分子图像的高分辨率
与各种显微镜相比，扫描探针显微镜具有高分辨率。
它具有与高性能 TEM 相当的横向分辨率和其他任何地方都无法获得的垂直分辨率。
无需样品处理，即可轻松观察到SEM无法观察到的精细结构。
气动隔振台和凝胶阻尼器的双重隔振结构
无论安装环境如何，该设备都能保证原子和分子水平的高分辨率。
3 种 AFM 模式可供选择
标配接触式模式、交流模式和非接触式模式，因此您可以根据样品和用途自由选择一种。
非接触模式为标准配置
无需使探头尖端接触样品表面即可实现高分辨率观察。
可以观察和测量样品表面的物理量
扫描探针显微镜不仅用于观察样品表面的形状，还可以测量各种物理量。
多种测量模式
除了摩擦图像、相位图像等标准测量之外，通过添加选项，涵盖了表面电位、磁图像、粘弹性图像等多种测量模式。
任何操作环境
扫描探针显微镜可用于任何操作环境：空气、真空、气体气氛和液体。
环境控制 SPM
这是一种环境控制的 SPM，是大气压 SPM 的高级版本，可以在真空和气体气氛中进行观察。
可用性保持不变
即使您安装了在真空中加热和冷却样品的选件，大气中的可用性也不会恶化。 SPM 易于在所有环境中使用。
轻松简单的测量
设置样品后即可立即观察。
操作简单，只需选择一个图标
设置样本后，您只需按顺序选择图标即可观察。所有调整均配备自动调整功能。
图像处理→分析→报告创建一体化
SPM 所需的图像处理和分析到报告创建的功能集成为一，让您可以快速执行从观察到报告创建的任务。
规格/选项
| 分辨率 | AFM 原子分辨率（接触模式下的云母原子图像）STM原子分辨率（HOPG原子图像） |
|---|---|
| 系统漂移量 | 005nm/s或更低的无漂移阶段 |
| 测量模式（AFM） | 接触模式 凹凸像、力像力曲线、摩擦力曲线l-V、CITS、接触电流图像、SPS 映射交流模式 凹凸图像、相位图像、振幅图像、逐点MFM非接触模式（FM模式） 凹凸图像、频率图像 |
| 测量模式 (STM) | STM 模式 凹凸图像、当前图像、CITS、 l-V,S-V,l-S |
| 扫描范围 | X,Y：0～20μm（标准扫描仪）分辨率25位（包括偏移）Z：0～3μm（标准扫描仪）分辨率 21 位（×32 增益）使用管式扫描仪（可更换） |
| 样本大小 | 最大50mm×50mm×5mmt |
不包括悬臂，因此请在订购时咨询我们。
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