[已售完] JXA-8230 电子探针微量分析仪 (EPMA) |产品信息|日本电子株式会社| 日本电子株式会社产品信息|日本日本株式会社

适合所有用户的基于 PC 的友好操作

此产品不再可用。

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可配备高度通用且易于使用的EDS，WDS和EDS之间的协作提供了无缝且易于使用的分析环境。

功能

PC操作、WD/ED组合、环境考虑
新一代功能聚合

JEOL 的 EPMA（电子探针显微分析仪）已有半个世纪的历史，现已重生为熟悉的分析设备，并且更易于使用。
我们已更换为使用PC窗口的新操作系统，使测量和分析工作更加轻松。它使您从设置条件的麻烦任务中解放出来，并提供允许您在想要分析时立即开始测量的功能。当然，充分利用丰富的功能也可以进行高级分析。
多年来开发的高度可靠的硬件支持新 EPMA 的高精度和快速分析。
JXA-8230是新一代设备，完全可以满足EPMA作为分析仪器的所有需求。

电脑操作

EPMA 快速入门
项目管理
EPMA 浏览器
X射线图像（WDS）实时合成
EDS 活动地图*
新开发的超轻元素分光元件
采用涡轮分子泵

同时采集所有光谱

“在此分析”功能

观察二次电子图像或背散射电子图像时，只需单击图像上的任意点即可开始光谱收集。 EPMA（WDS）可以检测微量元素，轻松自动获得高精度定量分析结果。

用户食谱

如果您将常用的分析条件保存并加载为“配方”，则任何人都可以随时使用相同的条件执行分析。您还可以通过简单地组合多个配方来设置连续分析。

高级操作

当然，您也可以根据需要设置详细的分析条件。可以使用精心选择的分析条件进行微小区域的元素分析。此外，比以往更丰富的应用程序和更易于使用的软件支持多方面的数据分析。

WD/ED 联合系统

我们进一步开发了 JEOL 的 WDS 和 EDS，以创建易于使用的 WD/ED 联合收割机系统。擅长分析微量元素的WDS与以分析SEM闻名的JEOL EDS系统相结合，为大范围阶段扫描图和定量分析等高效数据收集提供了最大动力。

规格/选项

分析元素范围	WDS：(Be)※1/B～U，EDS：B～U
X射线光谱范围	WDS光谱范围：0087-93nm，EDS能量范围：20keV
X射线光谱仪的数量	WDS：1 至 5 选择，EDS：1
最大样本量	100毫米×100毫米×50毫米（高）
加速电压	02 至 30kV（01kV 步长）
辐照电流范围	10-12～10-5A
辐照电流稳定性	±005%/h, ±03%/12h(W)
二次电子分辨率	6nm(W), 5nm(LaB6）※2(工作距离11mm，30kV)
扫描放大倍率	×40 ~ ×300,000（宽11毫米）
扫描图像分辨率	最大 5120 × 3840
彩色显示屏	对于 EPMA 分析：LCD 1280 × 1024 用于 SEM 操作和 EDS 分析：LCD 1280 × 1024