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ty8天游线路检测中心配备新型波长色散软X射线发射光谱仪的电子探针微量分析仪进行元素分析和状态分析

JEOL 新闻第 44 卷,2012 年 高桥英行†、饭田伸夫†、村野刚典†、寺内雅美††、小池雅人†††、
河内哲也†††、今园隆†††、小江田胜††††、长野哲也††††、笹井宏之††††,
大上由纪††††、米泽吉夫††††、仓本聪††††

† 天游线路检测中心 外围设备业务部
†† 东北大学多学科材料科学研究所先进测量开发中心
††† 日本原子能机构量子束应用研究部
†††† 岛津制作所设备部光学事业部

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之前为透射电子显微镜 (TEM) 开发的软 X 射线发射光谱仪已安装在电子探针显微分析仪 (EPMA) 上。我们开发了一种新型 JS50XL,这是一种非均匀间隔凹槽衍射光栅,能够在 50 至 170eV 的低能量范围内进行光谱分析,并将其与背照式 CCD 探测器结合起来开发了这款光谱仪。在这个低能区,Al金属的Al-L发射具有小于02 eV的高能量分辨率,使得可以观察到费米边及其低能电子态密度,使得分析微观区域的态成为可能。通过ty8天游线路检测中心背照式CCD检测器,还可以进行并行检测,并且还可以获得存储样本上每个像素的光谱的光谱图。结果,可以捕获反映从微米级到约10cm见方的实际样品的化学键状态的分布。 EPMA配备了新开发的软X射线发射光谱仪,具有高能量分辨率和高灵敏度等多种功能,我们将介绍其新功能的示例。

欲了解更多信息,请参阅 JEOL News Vol44 的 PDF 文件。

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