通过共享光学显微镜和扫描电子显微镜的样品架，并通过专用软件管理载物台信息，系统可以存储光学显微镜观察到的区域，并进一步放大与扫描电子显微镜相同的视野以观察微观结构。现在可以用扫描电子显微镜无缝观察观察目标，而不会用光学显微镜错过观察目标，使光学显微镜图像与扫描电子显微镜图像之间的对比验证更加顺畅和轻松。
功能
系统概述
兼容型号
场发射扫描电子显微镜
电子探针显微分析仪
添加颜色信息更直观的观察和数据获取
通过将SEM观察无法获得的光学显微镜颜色信息添加到SEM图像中，可以提供更直观的视觉效果。
利用光学显微镜的功能进行平滑的位置识别
通过光学显微镜观察，您可以顺利识别SEM观察难以识别的结构的位置。
防止电子束损坏样品
为了防止电子束的损伤和污染，可以使用光学显微镜预先确定观察位置，并且可以用最少的电子束照射进行SEM观察。
miXcroscopy™ 用于 EPMA -系统概述-
这是一个使用光学显微镜设置EPMA元素分析（点分析）位置的系统。
miXcroscopy™ For EPMA 提高了工作效率和 EPMA 操作效率。
兼容型号
电子探针微量分析仪
miXcroscopy™ 用于 EPMA -平滑分析位置配准 -
即使对于难以从背散射电子成分图像中区分的样品，也可以通过用光学显微镜观察偏振光来顺利确定分析位置。
样品：载玻片上的矿物片
偏光显微镜图像放大倍数：50x
背散射电子成分图像放大倍数：50x
miXcroscopy™ For EPMA -准确快速地分析光学显微镜的注册位置-
常规流程
样品：矿物片
使用 miXcroscopy™ For EPMA 进行流程
miXcroscopy™ For EPMA 允许您将用于视场搜索和分析点注册的光学显微镜与用于执行分析的 EPMA 的角色分开，从而无需使用 EPMA 执行视场搜索，并允许将更多 EPMA 机器时间分配给实际分析。
申请
有关 miXcroscopy_EPMA 的申请
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