JSX-1000S 能量色散 X 射线荧光光谱仪 (XRF) |产品信息|日本日本株式会社

JSX-1000S是一款荧光X射线分析仪，采用触摸屏，可以轻松进行元素分析。
配备通用定性定量分析（FP法/校准曲线法）和RoHS元素筛选功能。
硬件和软件的各种选项可实现更广泛的分析。

功能

当用 X 射线照射样品时，会产生具有特定于样品中所含元素的能量的 X 射线。
这称为荧光 X 射线。该分析方法用半导体检测器检测这些荧光X射线，并根据能量（横轴）计算元素的类型，并根据X射线的强度（纵轴）计算元素的浓度。

解决方案应用程序会根据预先注册的配方自动执行所需的测量分析。您只需从解决方案应用程序列表中选择所需的解决方案图标即可轻松获得分析结果。我们在各个领域提供简单的分析。

标准配置解决方案

可选配置解决方案

新开发的智能FP（基本参数）方法使您无需准备标准样品即可获得高精度的定量结果，并自动校正残留成分和厚度。
（残余成分校正和厚度校正功能仅兼容有机样品）

FP法分析结果（质量%）

JSX-1000S 是分析 JEOL 产品的理想预检查和交叉检查机器！！

锆 (Zr) 存在于海滩和河流的沙子中。然而，并非所有沙子都含有锆。
通过使用XRF，可以快速确定砂粒群中是否含有Zr。此外，通过使用SEM EDS，可以识别存在Zr的砂粒。
通过结合使用 XRF 和 SEM EDS，您可以缩小目标元素的位置范围。

◆点击上方方框中的播放按钮开始播放影片（约4分钟）◆

操作简单，只需设置样品并触摸屏幕即可。
您还可以使用触摸操作在分析结果显示和频谱显示之间切换，就像使用平板电脑或智能手机一样。（也可以使用键盘和鼠标进行操作）。

设置并触摸的操作简单

简单直观的 GUI

FP（基本参数）方法基于我们多年来开发的独特算法，无需使用标准样品即可进行高精度的定性和定量分析。
利用新开发的内部 SDD（硅漂移探测器）、新设计的光学系统以及支持整个能量范围的滤波器，可以进行高灵敏度分析。
安装样品室排气装置（可选）可提高轻元素的检测灵敏度。

整个能量范围内的高灵敏度分析多达 9 种过滤器*和样品室排气装置可实现整个能量范围内的高灵敏度分析。

微量元素检测示例（10ppm 或更低）

检测元件范围	Mg〜U
检测元件范围	F~U（可选）
X射线发生器	5～50V，1mA
目标	Rh
初效过滤器多达9种自动更换	OPEN、ND、Cr、Pb、Cd（标准）
	Cl、Cu、Mo、Sb（可选）
准直器3种自动交换	09毫米，2毫米，9毫米
探测器	硅漂移探测器
样品室尺寸	300mmφ×80mmH
样品室气氛	大气/真空（可选）
样品室观察机构	彩色相机
操作电脑	Windows® 触摸屏台式电脑
分析软件	定性分析（自动定性、KLM 标记总和峰值显示、频谱搜索）定量分析（批量FP法、校准曲线法） RoHS分析溶液（Cd、Pb、Hg、Br、Cr）简单分析解决方案报告撰写软件
日常检查软件	管老化、能量检查、强度检查