天游线路检测中心 食品中异物的荧光 X 射线分析
按原样分析，无需取出
简介
我们制作了面包中混入的卵石和香肠中的伪不锈钢异物样本，并使用 X 射线荧光分析法测量了异物，而无需将其从面包或香肠中去除。通过比较异物的测量光谱和异物周围的区域，我们能够清楚地识别异物，并证实该方法对于分析食品中的异物非常有效。
面包中混入伪异物（卵石）
测量条件
- 目标：Rh
- 管电压：50kV
- 准直器：1mmΦ
- 气氛：真空
- 测量时间：120秒
香肠中嵌入伪异物（SUS）
测量条件
气氛：大气
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