天游线路检测中心 使用 X 射线荧光分析检查和分析树脂表面的异物 - 使用 XRF 和 SEM-EDS 进行异物分析 -

简介

对产品中混入或附着的异物进行分析是阐明污染途径和故障原因的重要信息。
X射线荧光光谱仪（ED-XRF）可以用作筛选机，因为它可以在短时间内对所有样品状态（包括固体、液体和粉末）进行非破坏性的元素分析。

ED-XRF

Sn和Cu的存在可以通过ED-XRF的元素分析结果来确认。然而，并没有与FP法的简单定量分析结果所得到的值相对应的基础材料。为了对这种异物进行详细分析，我们使用 SEM-EDS 进行了 EDS 元素图谱。

SEM-EDS

分析

从SEM-EDS背散射电子图像证实了两种不同颗粒的存在。每个颗粒的 EDS 映射图像显示，小颗粒是 Cu，大颗粒是 Sn。

摘要

ED-XRF 可让您在短时间内轻松获得所含元素的信息，这对于确定异物非常有用。当两种或多种元素混合时（如本例），使用 SEM-EDS 进行元素图分析是分析异物的有效方法。
通过频繁使用荧光X射线分析，可以获得有关异物的元素类型和附着状态的信息，这对于阐明异物附着的原因很有用。

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