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天游线路检测中心 薄膜FP法的膜厚测量-电镀材料标准样品的测量示例-

InSpirAtion [薄膜/电镀]

简介

电镀等表面处理广泛用于赋予零件耐腐蚀性、装饰性和功能性。这些薄膜的厚度对于管理非常重要,因为它会影响产品特性、质量和生产成本,并且需要进行各种测量、分析和评估。
X射线荧光分析仪可无损测量多达5层的膜厚,无需标准样品。

各种标准样品的测量示例

镀金

示例

JEOL XRF 薄膜样品

测量条件

  • 管电压:50 kV
  • 准直器直径:09 mmφ
  • 气氛:气氛
  • 测量时间:60秒

光谱

JEOL XRF 薄膜光谱

分析结果

分析结果(μm) 认证值(μm)
2.06 1.99

镀镍

示例

JEOL XRF 薄膜样品

测量条件

  • 管电压:50 kV
  • 准直器直径:09 mmφ
  • 气氛:大气
  • 测量时间:60秒

光谱

JEOL XRF 薄膜光谱

分析结果

分析结果(μm) 认证值(μm)
1.10 0.99

镀锌

示例

JEOL XRF 薄膜样品

测量条件

  • 管电压:50 kV
  • 准直器直径:09 mmφ
  • 气氛:气氛
  • 测量时间:60秒

光谱

JEOL XRF 薄膜光谱

分析结果

分析结果(μm) 认证值(μm)
2.81 2.61

镀银

示例

JEOL XRF 薄膜样品

测量条件

  • 管电压:50 kV
  • 准直器直径:09 mmφ
  • 气氛:气氛
  • 测量时间:60秒

光谱

JEOL XRF 薄膜光谱

分析结果

分析结果(μm) 认证值(μm)
8.89 8.97
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