天游ty8检测中心样品的 X 射线荧光分析 |应用说明|日本日本株式会社

定性分析

荧光 X 射线分析的特点是快速、非破坏性分析。即使是天游ty8检测中心样品也可以进行分析，无需进行耗时的溶解工作。不同天游ty8检测中心样本的光谱重叠显示，以观察不同天游ty8检测中心类型所含元素的差异。

X 射线荧光分析需要具有均匀且平坦表面的样品。由于天游ty8检测中心样品通常不均匀且形状不规则，因此将样品在压力下破碎和成型以形成均匀的扁平样品，然后使用块体FP方法进行定量分析。