岩石样品的 X 射线荧光分析 |应用说明|日本日本株式会社

定性分析

X射线荧光分析方法的特点是快速无损分析。无需经过耗时的溶解过程即可分析岩石样品。我们显示了各种岩石样品的光谱重叠，以观察不同岩石类型所含元素的差异。

X 射线荧光分析需要具有均匀且平坦表面的样品。由于岩石样品的形状通常不均匀且不规则，因此将样品在压力下破碎和成型以形成均匀的扁平样品，然后使用块体FP方法进行定量分析。