关闭按钮

选择您的区域站点

关闭

天游线路检测中心 透射电子显微镜 (TEM)

比SEM更详细的信息
我们响应生物系统和材料系统观察和分析的请求

透射电子显微镜适用于观察和分析各种样品的精细结构。
我们可以执行从生物样品的微观结构观察到材料样品的晶体结构和纳米/原子级观察的一切。
通过与各种测量装置组合,可以进行高分辨率的“纳米级元素分析”、“原位观察”、“断层扫描”等各种观察和分析。

主要设备

型号名称 加速电压 Cs 校正器 相机 科学、技术、数学
探测器
EDS 探测器
分析仪
选项
JEM-ARM200F
NEOARMex
冷-FEG 200kV
120kV
80kV
60kV
科学、技术、数学 清晰视图
(由加坦制作)
ADF
ABF
BF
贝伊
158mm2(2个)
JED
带有 Stela 的 Continuum ER(由 Gatan 制造)
EDM基础版(IDES制造)
4D-STEM(STEMx)(加坦)
高速扫描系统(JEOL制造)
JEM-2100F 肖特基 200kV - USC1000XP
(由加坦制作)
ADF
BF
100mm2(1个)
JED
ASTAR/Topspin(NanoMEGAS 制造)
JEM-1400Plus 实验室6或 W 120kV - 闪光灯 CMOS 相机
(日本电子制造)
- - -

分析示例

分析示例
分析示例

关于样品观察方法和制备方法

实际样本

  • 金属

  • 半导体

  • 陶瓷

  • 矿物质

  • 高分子材料(橡胶、塑料、薄膜)

  • 一般生物

  • 食物

  • 医学

  • 化妆品

观察方法

  • 正常 TEM/STEM 观察

  • EDS 分析

  • EELS 分析

  • 加热观察(Fusion DT/Protochips/室温至1200℃)

  • 冷却观察(Gatan636/Gatan公司/室温至液氮温度)

  • 水下观察(Poseidon200/Protochips)

  • 非曝光观察(非曝光转印支架/JEOL制造)

  • 非曝光冷却观察(双倾斜 LN2 Atoms Defend Holder/Melbuild)

  • 3D结构分析断层扫描(TEMography/SIF制造)

样品制备

  • 离子铣削

  • 冷冻离子铣削

  • 切片机⑥③

  • 冷冻切片机⑤③

  • 冻裂复制品①

  • 负染色⑩

  • 阴影⑨

  • 一般生物样品制备⑧

电子显微镜相关

要申请,您必须注册为 JEOL Solutions 会员。

如果您不是会员,请在此处与我们联系。

联系我们

在 JEOL,为了让我们的客户安心地使用我们的产品,
我们通过各种支持系统为客户提供支持。请随时与我们联系。