天游线路检测中心 CP 横截面样品制备
横截面抛光机™
可以从横截面方向制备分析所需的样品。它也非常适合沟道对比分析，因为它可以处理平滑的横截面而不造成物理损坏。适用于制备难以使用传统机械抛光的样品横截面，例如硬质材料和软质材料之间的接缝。可确保较宽的观察面（超过500μm）。
目标观测/分析设备
- 扫描电子显微镜 (SEM)
- 电子探针微量分析仪 (EPMA)
- 扫描探针显微镜 (SPM)
金属材质
样品：超导线材 FE-SEM (JSM-7000F)
复合材料
- 焊点
- 异物横截面
- 单层膜/多层膜
样品：印刷电路板上的电子元件 FE-EPMA (JXA-8500F)
无机/金属粉末
生物样本
样本：三色堇种子W-SEM (JSM-6610LA)
样品：糙米FE-SEM (JSM-7001F)
高分子材料
样品：PET薄膜FE-SEM (JSM-7001F)
样品：糙米样品：橡胶塞 FE-SEM (JSM-7001F)
使用带有间歇快门功能的CP(IN/OUT设置5分钟间隔)