实现世界最高水平的扫描透射图像（STEM-HAADF）分辨率58pmJEM-ARM300F GRAND ARM 是一款原子分辨率电子显微镜，最大加速电压为 300kV，配备了内部开发的像差校正装置。实现了世界最高水平的STEM-HAADF图像分辨率58pm。
功能
世界最高水平的STEM-HAADF图像分辨率58pm※1
由于采用了内部开发的像差校正装置，扫描透射图像（STEM图像）为58pm（加速电压300kV）※1得到保证（当照明系统配备球差校正装置时）。
配备超高分辨率极片时
ETA 校正器配备使用十二极的内部校正装置*选项
ETA校正器（扩展轨迹像差校正器）是JEOL开发的轨迹扩展十二柱像差校正器。
可安装STEM球面像差校正装置和TEM像差校正装置。
标配高性能冷阴极场发射电子枪HyperCF300
新设计的高性能冷阴极场发射电子枪作为标准配置。色差减少的高亮度电子束可以进行高分辨率的观察和分析。
两种类型的物镜极片，具体取决于应用
我们开发了两种具有特点的物镜极片。响应广泛的用户需求。
多种信号检测设备*可选
大直径100mm2 除了安装EDS（能量色散X射线光谱仪）或EELS（电子能量损失光谱仪）外，还可以安装背散射电子探测器和最多4种STEM观察探测器。
支持多种加速电压设置
标准配置加速电压300kV和80kV。作为一个选项，我们可以配置 40kV 至 300kV 范围内的加速电压以满足您的目的。
实现干样品初步抽真空和高真空的真空抽气系统
预抽真空系统标配涡轮分子泵，加强柱抽真空系统，实现高真空度，最大限度地减少原子级图像观察和分析过程中的污染和损坏。
高度稳定的镜筒/安装座，稳定的样品台，高电气稳定性
330mm镜筒直径增加了机械刚性，并且基于JEM-ARM200F培育的稳定技术，机械和电气稳定性以及耐环境性都得到了加强。
规格/选项
截至 2018/01/25
| 标准加速电压 | 300 kV 和 80 kV | ||
|---|---|---|---|
| 版本 | 超高分辨率配置 | 高分辨率分析配置 | |
| 带 STEM 收集器的 STEM 分辨率 (300 kV) | 0058纳米 | 0063纳米 | |
| 带 TEM 收集器的 TEM 分辨率 (300 kV) | 晶格分辨率 | 005纳米 | 006纳米 |
| 非线性信息限制 | 006纳米 | 007 纳米 | |
| 线性信息限制 | 009纳米 | 012纳米 | |
所列产品的外观和规格如有更改，恕不另行通知。
目录下载
JEM-ARM300F GRAND ARM 原子分辨率电子显微镜
应用
与JEM-ARM300F相关的应用
开发出实现超高分辨率的“原子分辨率电子显微镜JEM-ARM300F”
图库
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