新型原子分辨率电子显微镜“GRAND ARM™2”现已上市！
原子分辨率电子显微镜JEM-ARM300F“GRAND ARM™”经过进一步发展，可在从低加速到高加速的各种加速电压下实现超高空间分辨率观察和高灵敏度分析。
功能
功能 1
新开发的物镜FHP2
在保持支持300 kV加速电压的超高分辨率观测FHP物镜极片性能的同时，对极片形状进行了优化，提高了大面积（158 mm2）SDD的X射线提取角度和检测立体角。
因此，我们在保持超高空间分辨率的同时，实现了 FHP 两倍以上的有效 X 射线检测灵敏度。
GaN[211]的原子分辨率HAADF/ABF图像和EDS图。
功能 2
外壳盖
GARM ARM™2 用盒形外壳覆盖 TEM 柱（标准配置）。这减少了气流、室温变化和噪音等外部干扰的影响，提高了设备的稳定性。
功能 3
ETA 收藏家和 JEOL COSMO™快速准确的像差校正
JEOL COSMO™ 从非晶区域获取两个 Ronchigram 以测量和校正像差。因此，无需专用样品即可快速准确地进行像差校正。
功能 4
提高稳定性
新型冷阴极场发射电子枪（CFEG）使用排量增加的小型泵。
这提高了电子枪发射器附近的真空度，提高了发射和探测电流的稳定性。此外，较小的泵还使 CFEG 的重量减少了约 100 kg，使 TEM 主体更耐振动。
此外，通过加强电气和机械稳定性，我们提高了整个器件的稳定性和性能。
| 加速电压 | 大臂™(FHP) | 大臂™2(FHP2) |
|---|---|---|
| 300 kV | 下午 63 点 | 下午 53 点 |
| 200 kV | 晚上 78 点 | 下午 63 点 |
| 80 kV | 下午 136 点 | 晚上 96 点 |
| 60 kV | 下午 136 点 | 晚上 96 点 |
| 40 kV | 下午 192 点 | 下午 136 点 |
| 加速电压 | 大臂™(WGP) | 大臂™2(WGP) |
|---|---|---|
| 300 kV | 晚上 82 点 | 下午 59 点 |
| 200 kV | 下午 105 点 | 晚上 82 点 |
| 80 kV | 下午 136 点 | 晚上 111 点 |
| 60 kV | 下午 192 点 | 下午 136 点 |
| 40 kV | 下午 313 点 | 下午 192 点 |
GRAND ARM™ 和 GRAND ARM™2 的 STEM 图像保证分辨率（配备 STEM ETA 收集器时）。
功能 5
OBF系统（可选）
OBF STEM（最佳明场 STEM）是一种新的成像方法，它使用分体式 STEM 探测器获得的每个分段图像作为相位图像重建的源数据，并使用专用的傅立叶滤波器最大化图像的信噪比。对于重元素和轻元素，以极低的电子剂量实现高对比度。
可以轻松分析对电子束敏感的材料，而使用标准环形暗场和环形明场 STEM 方法很难观察这些材料，同时保持高对比度和宽范围的放大倍率。
K。 Ooe, T Seki,等人，超显微术 220, 113133 (2021)
STEM 低剂量成像
对于沸石和金属有机框架（MOF）等电子敏感材料，需要以高对比度观察轻元素，同时降低照射电子剂量（通常探针电流小于10 pA）。
OBF STEM 对于如此低电子剂量的实验非常有效，并且能够在低剂量条件下以原子分辨率水平进行 STEM 观察。
MOF MIL-101（左）和 MFI 沸石（右）的 OBF STEM 图像均通过单次拍摄获得，并且在 FFT 图案（右插图）上确认了 1 Å 的高空间分辨率。此外，堆叠图像平均（左插图）证实分辨率和对比度都非常高。
样品：MOF MIL-101
设备：JEM-ARM300F2
加速电压：300kV
会聚半角：7 mrad
探头电流：< 015 pA
插图）平均 50 帧
样本提供：广西大学赵振霞教授
样品：MFI 沸石
设备：JEM-ARM300F2
加速电压：300 kV
会聚半角：16 mrad
探头电流：05 pA
插图）FFT 模式
轻元素的高对比度成像
OBF STEM方法也非常适合观察轻元素。即使在低加速电压下观察，也可以实现高对比度和空间分辨率。
结合OBF的高剂量效率，可以大大减少对样品的损害。
样品：GaN [110]设备：JEM-ARM200F加速电压：60 kV会聚半角：35 mrad
样品：石墨烯设备：JEM-ARM200F加速电压：60 kV会聚半角：35 mrad
在高加速电压下观察时可以实现更高的空间分辨率。
实现亚埃 STEM 图像观察，同时保持高对比度。
样品：β-Si3N4 [0001]设备：JEM-ARM200F加速电压：200kV会聚半角：24 mrad插图）10 帧平均值
样品：GaN [211]设备：JEM-ARM300F2加速电压：300kV会聚半角：32 mrad插图）20 帧平均值
e-ABF（增强型 ABF）不能在 SAAF Quad 配置中使用。
实时 OBF 成像
对于电子束敏感的样品，从现场寻找到图像采集的所有操作都必须在低剂量条件下进行。
在这种情况下，OBF STEM 实时成像成为一项重要功能。
OBF 实时成像功能作为 OBF 系统的标准配置，通过简单的 GUI 控制，可以实现类似于普通 STEM 图像观察的无缝显示更新。
视频
使用 JEM-ARM200F 实时观察 OBF-STEM 图像
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相关链接
新闻稿
开始销售具有终极原子分辨率的新型原子分辨率分析电子显微镜“GRAND ARM™2”(JEM-ARM300F2)
规格/选项
正文
| 版本 | 超高分辨率配置 | 高分辨率分析配置 |
|---|---|---|
| 物镜极片 | FHP2 | WGP |
| 标准加速电压 | 300 kV 和 80 kV | |
| 电子枪 | 冷阴极场发射电子枪 | |
| STEM 分辨率 | 带 300 kV / 80 kV STEM 收集器 | |
| 下午 53 点/晚上 96 点 | 下午 59 点/晚上 111 点 | |
| TEM 分辨率 | 带 300 kV / 80 kV TEM 收集器 | |
| 光栅分辨率 50 pm / - | 光栅分辨率 60 pm / - | |
| 非线性信息限制晚上 60 点/晚上 90 点 | 非线性信息限制晚上 70 点/晚上 100 点 | |
| 线性信息限制晚上 90 点/下午 160 点 | 线性信息限制晚上 100 点/下午 170 点 | |
| 最大样品倾斜角度 | 使用 2 轴倾斜样品架进行分析时 | |
| X: ± 30°/ Y: ± 27° | X: ± 36°/ Y: ± 31° | |
| 使用高倾斜样品架时 | ||
| X：± 90° | X：± 90° | |
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JEM-ARM300F2 大臂TM2 原子分辨率分析电子显微镜
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新型原子分辨率分析电子显微镜“GRAND ARM™2”达到世界最高水平的分辨率
图库
EDS 画廊
氧化铈纳米颗粒
带图像过滤
| 示例 | 氧化铈(IV)纳米颗粒（锰掺杂） |
|---|---|
| 加速电压 | 300 kV |
| 探头电流 | ~27 pA |
| 地图大小 | 128×128像素 |
氮化硅
带图像过滤
| 示例 | 氮化硅 |
|---|---|
| 加速电压 | 300 kV |
| 探头电流 | 33 pA |
| 地图大小 | 256×256 像素 |
锰铝石榴石
带图像过滤
| 示例 | 锰铝石榴石 |
|---|---|
| 加速电压 | 300 kV |
| 探测电流 | 12 pA |
| 地图大小 | 256×256 像素 |
钙镁辉石
带图像过滤
| 示例 | 钙镁辉石 |
|---|---|
| 加速电压 | 300 kV |
| 地图大小 | 256×256像素 |
CaFe辉石和CaMg辉石之间的边界
带图像过滤
| 示例 | CaFe-辉石/CaMg-辉石 |
|---|---|
| 加速电压 | 300 kV |
| 地图大小 | 256×256像素 |
C 支撑上的 Pd/Pt 纳米颗粒@200 kV
带图像过滤
| 示例 | 碳载体上的 Pd/Pt 核壳纳米粒子 |
|---|---|
| 加速电压 | 200 kV |
| 探头电流 | ~12 pA |
| 地图大小 | 128×128像素 |
硫化钨单层片@80 kV
带图像过滤
| 示例 | 硫化钨(IV) |
|---|---|
| 加速电压 | 80 kV |
| 探头电流 | 30 pA |
| 地图大小 | 256×256像素 |
JEOL GRAND ARM™2 原子分辨率 EDS 图，配备 FHP2 极片和 158mm2双 SDD 系统
◆点击上方框中的“重播”按钮，电影将开始（约15分钟）◆
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