天游线路检测中心 开始销售具有终极原子分辨率的新型原子分辨率分析电子显微镜“GRAND ARM™2”(JEM-ARM300F2)
发布日期：2020/02/14
天游线路检测中心（总裁兼首席运营官 Izumi Oi）开发了一款新型原子分辨率分析电子显微镜“GRAND ARM™2 (JEM-ARM300F2)”，并将于 2020 年 2 月开始销售。
开发背景
近年来电子显微镜的发展一直是提高分辨率的旅程。在此期间，JEOL一直致力于提高电子显微镜各方面的稳定性。除了稳定性之外，随着像差校正技术的出现，我们能够快速突破分辨率障碍。
GRAND ARM™是专门为实现超高分辨率而设计的设备，但近年来，不仅针对硬质材料，而且针对软质材料，都需要进一步提高分辨率和分析精度。
为了满足这些需求，我们开发了配备新型物镜极片“FHP2”的GRAND ARM™2。通过安装FHP2，我们实现了终极原子分辨率和最大立体角的大直径EDS。
此外，标配不受外部环境影响的外壳盖，进一步提高稳定性。
主要特点
- 实现高灵敏度 X 射线分析，同时保持超高空间分辨率
FHP2 的新型物镜极片- 与传统 FHP 相比，X 射线检测灵敏度达到两倍以上（14sr（球面度））。
- 低色差和低球差系数的光学常数可以在从高加速到低加速的各种加速电压下实现超高空间分辨率和高灵敏度X射线分析。
（STEM 保证分辨率：下午 53 点@300kV，晚上 96 点@80kV）*。
- 还可配备物镜极片WGP，实现高灵敏度X射线分析
在上下两极差距较大的WGP中，- 大面积SDD可以更接近样品，允许超高灵敏度X射线分析（立体角22sr）。
- 还可以插入厚的特殊样品架，从而可以进行原位观察等各种实验。
- 与主体集成的像差校正装置
JEOL 的球面像差校正器与 FHP2 结合时实现了 53pm 的 STEM 空间分辨率，与 WGP (@300kV) 结合时实现了 59pm 的 STEM 空间分辨率。
此外，使用 JEOL 的像差校正控制系统 JEOL COSMO™ 可以轻松快速地进行像差校正。 - 冷阴极场发射电子枪（Cold-FEG）为标准装备
标配小能量宽度的高稳定Cold-FEG。 - 使用不受外部环境影响的外壳
标配包含外壳盖，以减少气流、室温变化和噪音等干扰的影响。
主要规格
| 保证分辨率 | HAADF-STEM 图像：0053nm（带 ETA 收集器、FHP2 极片） 电子枪：冷阴极场发射电子枪 |
| 加速电压 | 标准：300kV 和 80kV |
| 能量色散X射线分析仪 | 158毫米2 × 2 单位 14sr（FHP2 极片） |
标准价格
\500,000,000～
计划销量
10 单位/年
