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天游线路检测中心 JEM-2100Plus 透射电子显微镜

JEM-2100Plus 透射电子显微镜

JEM-2100Plus 是一款多功能电子显微镜,在完善的 JEM-2100 光学系统中添加了最新的控制系统,大大提高了可操作性。
JEM-2100Plus 卓越的基本性能和简单易懂的操作性,为从材料研究到医学和生物研究的广泛领域提供了出色的解决方案。

功能

改进的可操作性

在64位版本的Windows®上运行的最新操作软件“TEM Center”即使对于初学者也提供易于理解的操作。

  • Windows 是 Microsoft Corporation 在美国和其他国家/地区的注册商标或商标。

高级集成

通过将 TEM Center 与高像素相机(可选)和扫描图像(BF/DF 图像)观察功能(可选)集成,可以从 TEM Center GUI 直观、轻松地进行操作。

各种用户辅助功能

配备多种用户辅助功能(自动对焦、自动对比度/亮度、自动曝光、自动蒙太奇、漂移校正功能、舞台导航功能等)。

图像查看/编辑软件

查看器软件允许离线查看和编辑图像。

规格/选项

版本 超高分辨率配置*1
(超高分辨率)
高分辨率配置*1
(人力资源)
高度倾斜配置示例*1
(HT)
冷冻配置*1
(CR)
高对比度构图*1
(HC)
分辨率
粒子图像 0194 纳米 023纳米 025 纳米 027纳米 031纳米
格子图像 014 纳米 014纳米 014纳米 014 纳米 014 纳米
  • 订购型号时请选择其中一种配置。

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EDS 画廊

墨粉颗粒(蓝色和红色)

DF
C Kα
O Kα
斯卡
铜Kα
RGB 叠加
示例 墨粉颗粒
加速电压 200 kV
地图大小 256 × 256 像素

墨粉颗粒(蓝色和黑色)

DF
C Kα
O Kα
斯卡
铜Kα
RGB 叠加
示例 墨粉颗粒
加速电压 200 kV
地图大小 256 × 256 像素

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