天游web原生态手机端-19530CP
横截面抛光机™
横截面样品制备装置

天游web原生态手机端-10500HMS Cross Section Polisher™ 高通量铣削系统

Achieving the world's fastest class ion milling speed!

我们开发了“天游web原生态手机端-10500HMS高通量研磨系统”，该系统在截面样品制备装置截面抛光机“天游web原生态手机端-19530CP、天游web原生态手机端-19520CCP”中使用了新开发的离子源。

通过安装 HMS，我们实现了 12 毫米/小时的截面铣削速率。 （与之前型号相比为 24 倍）

此外，通过使用大型旋转支架，现在可以进行宽度为 20 毫米的平面铣削。

JSM-7900F肖特基场发射扫描电子显微镜

JEOL 的新旗舰 FE-SEM 保留了传统设备广受好评的性能，例如超高空间分辨率、高稳定性和多用途，但大大提高了可操作性，无论操作员技能如何，都能始终提供高性能。

JSM-IT800肖特基场发射扫描电子显微镜

JSM-IT800拥有一个通用平台，包括实现高分辨率观察的“镜头内肖特基Plus场发射电子枪”、下一代电子光学控制系统“Neo Engine”以及将我们自己的EDS融入易于使用的GUI“SEM Center”中以实现高速元素映射的系统。

通过将SEM物镜替换为模块，我们提供满足客户各种需求的设备。

JSM-IT800 有配备不同物镜的五个版本：混合镜头版本 (HL)，这是一种通用 FE-SEM；超级混合镜头版本（SHL/SHL，具有不同功能的 2 个版本）可实现更高分辨率的观察和分析；以及半镜头版本（I/IS，具有不同功能的 2 个版本），擅长半导体样品观察。

此外，JSM-IT800还可配备新型背散射电子探测器、闪烁体背散射电子探测器(SBED)和多用途背散射电子探测器(VBED)。 SBED 可以采集具有良好响应和低加速电压的材料对比图像。 VBED 可以获得 3D、不均匀性和材料对比度图像，因此您可以期望获得以前无法获得的信息并改善测量问题。

天游web原生态手机端-19520CCP 冷却截面抛光器™ 截面样品制备装置

在处理过程中用液氮冷却样品可以减少离子束造成的热损伤。
具有较长的冷却停留时间并具有减少液氮消耗的结构。样品可以冷却，返回到室温，并在短时间内取出，同时仍含有液氮。
配备传输机构，可在不暴露于大气的环境中执行从处理到观察的所有操作。

JSM-7610FPlus肖特基场发射扫描电子显微镜

JSM-IT700HR InTouchScope™ 扫描电子显微镜

SEM 每天都在使用。所以它很容易使用。

随着技术的革新，观察的对象日益变小。 JSM-IT700HR 的诞生是为了满足日常测量这种日益精细的样品的需要。电子枪最大分辨率为1 nm，最大照射电流为300 nA，为您提供充足的观察和分析时间。此外，用户界面注重简单的操作，紧凑的设计和大的样品室允许任何人自由地进行测量。它“看起来很容易”而不是“看起来”。所以，JSM-IT700HR。

JSM-IT510 InTouchScope™ 扫描电子显微镜

您需要的数据总是简单的。

扫描电子显微镜 (SEM) 不仅已成为研究、质量保证和制造的重要工具。在这些地点，需要一遍又一遍地重复相同的观察工作，并且需要提高该过程的效率。 JSM-IT510は新たに加わった简单SEM机能では、従来SEM観察に必要とされたマniyaruによる缲り返工し作业を「おまかせ」出来ます。SEM观察工作现在更高效、更轻松

JCM-7000 NeoScope™ 台式扫描电子显微镜

开发背景及主要特点

台式扫描电子显微镜广泛应用于各个领域，主要是电气和电子、汽车和机械、化工和制药。它们不仅用于研究和开发，还用于质量控制和物品检查等靠近制造现场的工作，近年来，人们需要进一步提高工作效率、操作简便性以及增强分析和测量性能。

为了满足这些需求，JCM-7000 NeoScope™ 被开发为桌面扫描电子显微镜（桌面 SEM），其理念是“任何人都可以操作 SEM/EDS”。

配备了“Zeromag”等功能，可让您通过放大光学图像来查看SEM图像，“实时分析”可让您无需启动分析仪即可看到正在观察的视野中的元素，“实时3D”可让您在SEM观察期间进行三维观察。如果将一台放在光学显微镜旁边，您可以更快、更详细地进行异物分析和质量控制。