天游线路检测中心 JASIS 2024

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可直接进入各展览场馆、新技术说明会、研讨会场馆。
您可以提前申请参加研讨会和会议。
您可以查看 JASIS WebExpo。
您可以参加积分拉力赛,赢取精美奖品。
日期/地点
日期:
2024 年 9 月 4 日星期三至 2024 年 9 月 6 日星期五地点:
幕张展览馆国际展览馆
千叶县千叶市美滨区中濑 2-1 261-8550地图展位号:5B-801
研讨会(新技术说明会)讲座地点:幕张展览馆国际会议厅(毗邻国际展览馆)、TKP(原APA)会场
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展位内研讨会
| TEM |
介绍最新的透射电子显微镜“JEM-120i”,它已发展成为更熟悉的工具加速电压为120 kV的透射电子显微镜主要应用于生物、高分子等软材料领域。 JEOL 以“紧凑”、“易于使用”和“可扩展”的概念新开发了 JEM-120i。我们将介绍新一代电子显微镜 JEM-120i,它是 JEM-1400 系列的全面更新,包括无需切换放大模式的无缝观察和轻松更换灯丝的功能。
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|---|---|
| XRF |
SEM 用户必看!介绍 XRF 元素分析,比 ICP 更容易XRF 和 SEM-EDS 用作元素分析方法。比较这两种分析方法时,元素的检测灵敏度存在差异,而在SEM的典型用途之一的异物分析中,XRF有时可以提供更高灵敏度的分析。此外,对于XRF的典型用途微量元素分析,与XRF等也用于微量元素分析的ICP相比,XRF可以在更短的时间内完成包括采样在内的整个测量过程。在本次演讲中,我们将介绍XRF分析的这些特点,以及它与其他分析方法的区别。
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| 扫描电镜 |
轻松解决SEM操作员短缺问题!先进的SEM连续自动测量功能NeoAction介绍NeoAction安装在台式SEM JCM-7000和高分辨率SEM JSM-IT810系列中,是一项新功能,允许SEM在改变加速电压/信号类型、自动调整图像以及根据预先创建的流程改变位置等条件的同时自动进行观察/分析,就像由操作员操作一样。这使得从数据采集到报告创建的日常工作可以在无人值守的情况下执行。推荐给那些因缺少 SEM 操作员而烦恼的人,或者那些忙于多任务处理的人!
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| 核磁共振 |
免于制冷剂管理和 NMR 日常检查为了使用NMR,“液氦等冷却剂的管理”和“90°脉冲宽度、分辨率等的日常检查”是必不可少的任务。JEOL 很高兴推出第一家 NMR 制造商的制冷剂蒸发抑制装置和新的日常检查自动化工具解决方案。我们让您免于麻烦的 NMR 管理。
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| GC-MS |
介绍最新的 GC-MS 定性分析软件:msFineAnalysis AI 和 iQ ver2去年发布的GC-TOFMS分析软件msFineAnalysis AI利用AI技术自动分析未知物质的结构。我们现在发布第 2 版,该版本改进了我们的人工智能技术,并提供了更高精度和准确度的结构分析结果。版本2还包括目标分析功能,可快速搜索特定化合物和异构体等目标化合物。此外,GC-QMS专用分析软件msFineAnalysis iQ也已发展到版本2,其中也包含了目标分析功能。我们想向您介绍两款最新的GC-MS定性分析软件。
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| EPMA |
电子探针微量分析仪(EPMA)使用WDS和EDS的最新分析技术介绍电子探针显微分析仪(EPMA)是一种用电子束照射样品,利用获得的各种信号来观察样品表面的结构和形貌,进行微米量级的局部元素分析的分析装置。 JEOL的EPMA可以配备WDS和EDS,并且可以使用WDED进行同步元素分析。本次研讨会我们将根据实际分析结果讲解WDS和EDS的原理及其区别,并介绍最新的WDED分析技术。
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| MALDI飞行时间质谱仪 |
隆重推出不断发展的 MALDI-TOFMS“JMS-S3000 Spiral-TOF™-plus 30”JMS-S3000 是一种超高质量分辨率和高灵敏度 MALDI-TOFMS 系统,采用 JEOL 独特的 SpiralTOF 离子光学系统,扩大了 SpiralTOF 模式下的测量质量范围,并发展到 SpiralTOF™-plus 30。此外,海量成像数据处理软件msMicroImager™版本3(可选)新增了“FINE-AI Filter”,优化了扫描电子显微镜中海量成像数据的图像处理技术,从而显着提高了海量成像数据的图像质量。介绍不断发展的 SpiralTOF™-plus 30 的魅力。
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| 扫描电镜 |
从“简单”到“自动”测量时代:推出新型 FE-SEM JSM-IT810JSM-IT810配备了下一代光电控制系统“Neo Engine”和“SEM Center”,实现了高可操作性。此外,自动观察分析功能“Neo Action”和自动校准功能可实现高效、高质量的数据采集。我们提供多功能性高的<HL>、可实现更高分辨率观察和分析的<SHL>以及可对倾斜样品等进行高分辨率观察的<SIL>,并提供满足各种需求的设备。在本次研讨会中,我们将介绍这些特性和新功能。
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应用展会信息
我们将利用我们作为通用科学设备制造商的优势,介绍使用各种分析设备的应用。
| 半导体领域 | 微观分析阐明半导体的精细结构 |
|---|---|
| 电池领域 | 通过二次电池原位 SEM/无窗 EDS 进行 Li 分析 |
| 生物领域 | 药品:通过分析支持医疗护理〜胰岛素衍生淀粉样变性〜药物发现:API 结构分析解决方案 |
| 可持续发展领域 | 先进的分析设备技术塑造可持续的未来 |
| 食品领域 | 各种食品相关分析和多样化方法 |
| 催化领域 | 催化剂行为的“原位 TEM&MS 观察” |
| 聚合物领域 | 多维度分析技术,开启循环经济未来 |
| CLEM光学电子相关显微镜 | 光与电子的融合 - 从材料到生物- |
| 表面处理领域 | 科学眼睛揭示的工艺世界!日本电镀技术 |
服务及解决方案展览信息
JEOL 除了购买设备外还提供新设备的使用。
JEOL 拥有业内最好的产品阵容之一,从台式 SEM 到样品制备设备、大型 TEM 和 NMR,我们都有计划让您根据自己的方便轻松使用。
研讨会信息(新技术说明会)
演讲地点:幕张展览馆国际会议中心TKP(原APA)会场
在每年的新技术说明会上,我们将介绍最新的分析设备/分析技术和分析诀窍。
9 月 4 日(星期三)
| 日期和时间 | 讲座地点 | 标题摘要 |
|---|---|---|
| 10:15~10:45 | TKP(以前称为 APA)8号场地 | 冷冻 FIB-SEM 简介 ~JEOL新开发的cryo-FIB-SEM加强了与JEOL制造的Cryo-TEM的联动,大大减少了液氮中复杂的网格工作。在本次讲座中,我们将介绍该装置的特点及其在生物体和食品中的应用示例。 |
| 11:00~11:30 | TKP(以前称为 APA)2号场地 | 使用软件支持 NMR 数据分析JEOL 专门从事 NMR 数据分析的软件 JASON (Jeol Analytical SOftware) |
| 12:45~13:15 | TKP(以前称为 APA)7号场地 | 易于使用,提高效率!新CP介绍Ar 离子束横截面样品制备装置 Cross Section Polisher™ (CP) 标配高通量离子源,并且可以远程控制。介绍新CP的功能和应用。 |
| 13:30~14:00 | 幕张展览馆会议厅104 间会议室 | 使用 AI 和 GC-MS 进行食品分析的最新示例!香气分析和代谢组学中未知物质的定性分析解决方案使用GC-MS分析食品的香气和代谢组时,有时会检测到未在库数据库中注册的“未知物质”。这次,我们将介绍使用人工智能定性分析解决方案对这些未知物质进行分析的示例。 |
9 月 5 日(星期四)
| 日期和时间 | 讲座地点 | 标题摘要 |
|---|---|---|
| 10:15~11:15 | TKP(以前称为 APA)10-11号场地 | 质谱分析的第一步:质谱用于物质鉴定和定量分析,可以进行高灵敏度和高分辨率的精确分析。这次我们主要介绍GC/MS,它广泛应用于食品、环境、材料分析等领域。 |
| 12:45~13:15 | TKP(以前称为 APA)1号场地 | 电子自旋共振 (ESR)ESR方法是一种磁共振波谱法,可以通过观察材料中的电子自旋来获得有关材料的反应性、迁移率和结构的信息。在本次演讲中,我们将介绍从 ESR 获得的基本信息以及一些可用于材料分析的应用示例。 |
| 14:00~14:30 | 幕张展览馆会议厅103会议室 | 从基础开始学习!软材料的显微观察~从TEM制样到观察~我们将介绍使用 TEM 进行软材料观察的基础知识和应用,以及 TEM 原理和样品制备流程。 |
| 15:45~16:15 | TKP(以前称为 APA)5号场地 | 简单多重共振测量在NMR测量中的应用我们开发的MFDS(多频驱动系统) |
9 月 6 日(星期五)
| 日期和时间 | 讲座地点 | 标题摘要 |
|---|---|---|
| 11:15~11:45 | TKP(以前称为 APA)7号场地 | GC-MS 测量可以用氮气完成! ~克服氦气短缺的替代载气应用介绍~近年来氦气短缺的情况持续存在,考虑使用氦气以外的其他选项作为 GC-MS 载气非常重要。在本次研讨会中,我们将介绍其在各种应用中的应用示例,重点介绍易于处理的氮气的使用。 |
| 12:30~13:00 | 幕张展览馆会议厅105会议室 | 利用电子显微镜和质谱仪进行高分子材料分析~聚对苯二甲酸乙二醇酯劣化过程中的形态变化和分子结构变化~PET 是一种热塑性聚酯,用途广泛,包括食品包装、饮料容器和纺织品。在这里,我们将结合电子显微镜和高分辨率质谱仪,从多个角度分析PET降解引起的形态变化和分子结构变化。 |
| 13:30~14:00 | TKP(以前称为 APA)1号场地 | 使用电子探针微量分析仪 (EPMA) 进行软 X 射线发射光谱仪测量软件配置已更新,软X射线发射光谱仪测量功能已重组为组件并集成到EPMA控制软件中。具有改进的可操作性的新集成软件概述。 |
| 14:15~14:45 | 幕张国际展览中心会议厅101会议室 | ``TEM 能做什么?TEM是观察微观结构的有力工具,其观察方法和应用范围广泛。在本次演讲中,我们将通过材料样本来介绍TEM的原理及其应用实例。 |
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