天游线路检测中心 聚焦离子束加工观察装置（FIB）
在用离子束观察的同时高速、精确地处理样品。可以通过自动处理创建透射电子显微镜 (TEM) 样品并进行三维分析。配备扫描电子显微镜(SEM)的复合光束加工观察装置可以通过附加检测器进行各种分析。
聚焦离子束加工和观察设备（FIB）阵容
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我们通过各种支持系统为客户提供支持。请随时与我们联系。
在用离子束观察的同时高速、精确地处理样品。可以通过自动处理创建透射电子显微镜 (TEM) 样品并进行三维分析。配备扫描电子显微镜(SEM)的复合光束加工观察装置可以通过附加检测器进行各种分析。
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