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天游线路检测中心 冷冻-FIB-SEM
CryoLameller

冷冻-FIB-SEM

这是一种 CRYO-FIB-SEM 系统,将液氮冷却台和用于冷冻样品的样品传输机构集成到 FIB-SEM 中,从而可以制备生物聚合物等 TEM 样品。
样品传输机构内置溅射镀膜功能,仅此系统就可以执行从冷冻样品制备TEM样品的一系列过程,包括导电镀膜、保护膜形成和FIB处理。
此外,由于可以使用我们的 CRYO ARM™ 试剂盒运输样品,因此在 TEM 样品制备后将样品运输到 CRYO ARM™ 会更容易。

功能

产品视频

使用 CRYO ARM™ 试剂盒进行冷冻样品运输

样品传输由 CRYO ARM™ 试剂盒执行。将样品网连接到卡盒后,无需使用镊子处理样品网,从而实现可靠且高通量的样品运输。

高度稳定的冷却台

我们采用了液氮热传导冷却台。这减少了冷却引起的载物台漂移和振动,从而实现可靠的 TEM 样品制备。

独特的防污染装置

我们新开发了一种防污染装置,以减少样品室内的冰污染。即使在长时间内制备大量样品时,冰污染的影响也可降至最低。

 
冷冻 CLEM 工作流程

Linkam Scientific Instruments 制造的低温台和尼康公司制造的光学显微镜允许您使用 CRYO ARM™ 试剂盒构建冷冻 CLEM 工作流程。由于每个设备的载物台坐标可以链接,因此在设备之间传输样品时您不会丢失样品的方向或位置。

 

规格/选项

扫描电镜
入射电压 01 至 300 kV
束流 1 pA 至 300 nA
图像分辨率 16 nm(15 kV,WD 4 mm)
30 nm(2 kV,WD 85 mm)
FIB
加速电压 10 至 300 kV
束流 1 pA 至 90 nA
图像分辨率 40 nm (30 kV)
冷却阶段
冷却方式 热传导冷却
使用的制冷剂 液氮
冷却温度 阶段:-160°C或以下
防污染装置:-180°C或以下
冷却停留时间 超过 13 小时
移动范围 X:20毫米
Y:30毫米
Z:4至405毫米
温度:-40 至 70°
R:360°或更大(-190至190°)

标准组件

导电涂层 Pt 溅射涂层纳入样品交换室
防污染装置 纳入SEM柱和样品室

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