牛津仪器公司制造的OmniProbe350是一种纳米操纵器，可以执行高精度和平稳的探测操作。通过安装在JIB-4700F复合光束加工观察装置上，可以一边用SEM、FIB观察一边进行提出作业。您可以在JIB-4700F的样品室中完成TEM样品制备的整个过程。
功能
直观的探测操作探头操作可以通过 SEM 和 FIB 观察方向定义的坐标轴进行控制。
出色的线性探头可以在各个方向上线性移动，以便安全提起，而不会碰到凹槽的侧面。
精确移动（包括位置保存）一键将探头从存放位置移动到操作位置。您还可以保存和调用用户定义的工作位置。
低振动、低漂移最大限度地减少怠速时的振动和漂移，降低提升过程中发生故障的风险。
原位芯片交换探针可以快速更换，无需对电子显微镜室进行通风。
使用 OmniProbe 350 的 TEM 样品制备流程
1。样品块的制备
2触摸 OmniProbe 进行采样
3。从样品块中提出
4运输至电网
5。修复样本块
6。薄膜加工
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产品信息
规格/选项
| 身体部位 | 行程X：±2mm，Y：±1mm，Z：44mm |
|---|---|
| 移动速度 最小：50nm/s，最大：500μm/s | |
| 最小步进移动距离50nm以下 | |
| 控制单元 | 控制器、PC、显示器、软件 |
| 所需的实用程序 | AC 90 -264 V，47 – 63 Hz 1 个插座 |
| 适用机型 |
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