天游8线路检测中心 SEM 横截面样品制备实用指南 ~接近 CP 加工表面的剃刀平面表面技术 ~
发布日期：2025/12/17
扫描电子显微镜（SEM）是观察样品表面的设备，横截面对于观察内部结构很重要。机械抛光机或截面抛光机TM(CP) 和聚焦离子束加工 (FIB) 需要昂贵的设备和专门的预处理。在本次网络研讨会中，我们将介绍一种使用剃刀制作横截面的简单方法。我们研究了如何使用刀片与纸张和镀金属线的横截面结构之间的关系，并使得根据样品的特征来观察物体成为可能。
本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。我们期待您的参与。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
使用剃刀的简单横截面方法
如何根据样品特性使用剃须刀
横截面样品安装适配器
想要参与的客户
那些希望创建对样品内部结构影响较小的横截面的人
那些希望以低成本创建横截面的人
对于那些对 SEM 观察前的预处理感兴趣的人
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扬声器 |
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活动日期 |
2026 年 1 月 30 日星期五 16:00 - 17:00 |
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参与费 |
免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。） |
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演示材料 |
讲座结束后填写调查问卷即可下载。 |
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讲座录音 |
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问答 |
讲座结束后将有时间进行问答。如果您有任何疑问，请在报名表的预先提问部分填写，或在讲座当天使用 Zoom 上的问答功能。 |
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查询 |
日本电子有限公司需求促进总部sales1[at]jeolcojp
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如何申请
请在下面申请。
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网络研讨会将在 Zoom 上举行。 Zoom有测试会议功能，因此我们建议首次使用的用户进行测试。请参阅“单击此处测试 Zoom”。
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请注意，我们可能会拒绝参赛者注册。
