天游线路检测中心 分析设备的不同用途及其策略（以电镀分析为例）
发布日期：2024/02/06
厚度是电镀的重要参数。测量厚度的最佳方法是什么？方法有目视观察、尺测量、SEM观察等多种方法。它还会根据一些因素而变化，例如强调的是准确性、可以轻松完成的事情还是可以在短时间内完成的事情。在本次网络研讨会中，我们将介绍使用XRF和SEM观察镀层厚度的结果，以及使用SEM和TEM观察结核形成（镀层缺陷之一）的结果，以及分析设备的差异。
本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。
我们期待您的参与。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
镀膜厚度评价方法
各种分析仪器的特点
结节的形成因素，这是电镀缺陷之一
想要参与的客户
从事表面处理的人员
分析工作中涉及多种分析仪器者
想要学习分析仪器基础知识的人
扬声器
高雄福留
微软业务部MS 营销部MS 应用程序第二组
日期/详细信息
2024年3月1日（周五）16:00-17:00
讲座结束后将有时间进行问答。
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演示材料
不会分发演示材料。
参与费
免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。）
如何申请
请在下面申请。
请参阅 PDF，了解有关如何注册和参与的详细信息。
网络研讨会将在 Zoom 上举行。 Zoom有测试会议功能，因此我们建议首次使用的用户进行测试。点击此处了解详情。
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