第39届Nepcon天游线路检测中心-电子开发与实施展-

在 JEOL 展位上，我们将展示新产品 Cross Section Polisher™（横截面样品制备装置）、JCM-7000 NeoScope™ 台式扫描电子显微镜和 JSX-1000S 能量色散 X 射线荧光光谱仪 (XRF)。我们还将通过展区介绍最新的设备和应用。我们期待在那里见到您。

日期/地点

• 日期：
  2025 年 1 月 22 日星期三至 1 月 24 日星期五
  10:00～17:00

• 地点：
  东京国际展示场
  东京都江东区有明 3-11-1 135-0063

• 展位号：
  E15-26（东京国际展示场东2馆）

展览内容

设备

我们计划使用实际设备进行演示。

JCM-7000 NeoScope™ 台式扫描电子显微镜

JSX-1000S 能量色散 X 射线荧光光谱仪 (XRF)

IB-19540CP 横截面抛光机™ IB-19550CCP 冷却横截面抛光机™

面板

JSM-IT210 扫描电子显微镜

JSM-IT710HR 扫描电子显微镜

JSM-IT810肖特基场发射扫描电子显微镜

JIB-PS500i FIB-SEM 系统

JEM-120i 电子显微镜

扫描电子显微镜 (SEM) 系列

聚焦离子束加工和观察设备（FIB）阵容

表面分析仪 (SA) 系列

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