这是一款荧光X射线分析仪，配备高灵敏度、高分辨率、无液氮的Si(Li)半导体探测器。
功能
独特的探测器冷却机制实现了无氮操作。这是一款配备检测器再排气系统并实现长期稳定运行的高端型号。
通过使用对重元素高度敏感的Si（Li）探测器、比传统型号更短路径的光学系统布局以及特殊的滤光片，可以在短时间内测量低浓度成分。
分辨率高，可清晰分离 Mg、Al、Si 等轻元素。
使用FP法（基本参数法），无需标准物质即可轻松进行定量分析。
标配1mmΦ准直器和CCD相机，可以检查和分析微小异物。
标配总和峰值显示功能，使定性分析变得容易。使用可选的总和峰去除软件进一步提高了定量分析的准确性。
薄膜FP法无需标准样品即可轻松测量多层镀层、合金镀层等的镀层厚度。
规格/选项
| 检测元件范围 | Na - U |
|---|---|
| X射线发生器 | 5-50kV 1mA 50W |
| 目标 | Rh |
| 过滤器 | 4种自动交换（含开放式） |
| 准直器 | 1mmφ／3mmφ／7mmφ |
| 探测器 | 液氮无硅(Li)半导体探测器 |
| 液氮 | 不必要 |
| 样品室尺寸 | 直径300毫米×150毫米（高） |
| 样品室气氛 | 大气（真空：可选） |
| 电脑 | 操作系统：Windows®7 LCD显示屏彩色打印机 |
| 软件 | RoHS分析：塑料五元素分析、金属材料五元素分析、分析结果报告制作一般分析：体FP法、薄膜FP法、校准曲线创建 |
| 维护软件 | 设备校准软件 JSX starter |
| 随附示例 | 能量校准样品RoHS元素含量检查样品强度校准样品 |
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