这是一种配备有波长色散X射线光谱仪（WDS）的分析仪，通过使用灵敏的超轻元素分光元件，可以分析微量的轻元素。用于材料质量评价、新材料开发等，获取的数据可以通过网络传输。
功能
<<目前在售的后续型号是JXA-iSP100>>
操作简单，分析先进，功能丰富
JEOL的EPMA基于长年积累的丰富的电光设备专业知识，配备了EPMA的最佳光学系统、真空系统和操作功能，并配备了满足分析人员目标的全方位分析功能。
这是一款令人自豪的设备，由对硬件和软件都讲究的工程师独特设计，并在内部完全开发和成熟。
此外，基于世界各地用户对快速、准确和易于使用的要求，分析方法已成为一种复杂的工具。
该设备融合了我们与客户多年沟通的宝贵财富。
我相信即使是初学者也会很快习惯它。先进的 JXA-8100/8200 可以轻松处理许多任务。网络现在已经很普遍了。在办公桌上分析数据并准备演示文稿。
支持多个操作系统。远程功能变得栩栩如生。
全平顶简单操作
Live Time Multi Viewer 的新操作观察
新型数字控制/BEI/光束稳定器
自动功能、自动饱和、自动对齐、自动对焦、自动斑点、自动亮度、对比度功能
规格/选项
| 分析元素范围 | 5B～92U (4Be～) |
|---|---|
| X射线光谱范围 | 0087～93nm |
| X射线光谱仪的数量 | 选择 1 到 5 个单位（所有光谱仪：扫描仪类型） |
| 最大样本量 | 100mm×100mm×50mm（高） |
| 分析区域 | 90毫米×90毫米 |
| 最大样品台驱动速度 | 15毫米/秒 |
| 加速电压 | 02 至 30kV（01kV 步长） |
| 辐照电流范围 | 10-12～10-5A |
| 辐照电流稳定性 | ±005%/小时，±03%/12小时 |
| 二次电子图像分辨率 | 6nm (WD11mm,30kV) |
| 背散射电子图像 | 构图图像、不均匀图像 |
| 扫描放大倍率 | ×40～300,000 (WD11mm) |
| 扫描图像分辨率 | 1,280×1,024（可实时显示） |
| 彩色显示屏 | 分析操作：1,280×1,024SEM操作/观察：1,280×1,024 |
| 申请 | 定性分析、专家定性分析、半定量分析、定量分析、校准曲线分析、线分析、面积分析、连续自动分析、复杂图谱分析、微型显示、文件搜索 |
对于 JXA-8200，以下规格中添加了 EDS 检测器。
申请
与 JXA-8100 相关的应用
使用配备新型波长色散软X射线发射光谱仪的电子探针微量分析仪进行元素分析和状态分析
对于观察和分析石棉纤维很有用！ ：JXA-8500F、JXA-8100
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