天游线路检测中心 使用透射电子显微镜进行STEM观察和分析的基础实践课程
发布时间：2025/10/21
我们将介绍从STEM观察到使用透射电子显微镜进行分析的整个过程，包括操作方法。在获取和分析STEM图像时，我们将使用视频来解释应该观察和分析哪些条件，以及使用哪些过程来确定条件。
本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。我们期待您的参与。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
设置 STEM 图像采集条件
设置分析条件
STEM图像及分析的操作方法
想要参与的客户
STEM 和分析的初学者到中级
无法正确拍摄 STEM 图像的人
如果您不知道哪些条件最好
相关产品
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扬声器 |
桥口宏树 日本电子有限公司SI事业部EM事业部EM应用部 
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活动日期 |
2025 年 11 月 21 日星期五 16:00 - 17:00 |
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参与费 |
免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。） |
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演示材料 |
您可以在讲座结束后填写调查问卷来下载。 |
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讲座录音 |
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问答 |
讲座结束后将有时间进行问答。如果您有任何疑问，请在报名表的预先提问部分填写，或在讲座当天使用 Zoom 上的问答功能。 |
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查询 |
日本电子有限公司需求促进总部sales1[at]jeolcojp
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如何申请
网络研讨会已经结束。讲座视频可作为存档使用。您可以通过下面的申请观看。
视频
输入客户信息后，您将被重定向到视频页面。
