这是一款配备高灵敏度、高分辨率硅（锂）半导体探测器的荧光X射线分析仪。
功能
使用液氮型检测器的具有优异性价比的通用机。
Using a Si (Li) detector that is highly sensitive to heavy elements, an optical system layout with a shorter path than previous models, and a special filter, low-concentration components can be measured in a short time
分辨率高，可清晰分离 Mg、Al、Si 等轻元素。
使用FP法（基本参数法），无需使用标准物质即可轻松进行定量分析。
标配1mmφ准直器，可以检查和分析微小异物。
标配总和峰值显示功能，使定性分析变得容易。使用可选的总和峰去除软件进一步提高了定量分析的准确性。
薄膜FP法无需标准样品即可轻松测量多层镀层、合金镀层等的镀层厚度。
规格/选项
| 检测元件范围 | Na〜U |
|---|---|
| X射线发生器 | 5~50kV，1mA，50W |
| 目标 | Rh |
| 过滤器 | 4种自动交换（含开放式） |
| 准直器 | 1mmφ／3mmφ／7mmφ |
| 探测器 | 硅（锂）半导体探测器 |
| 液体曼素 | 3L用量1L/日 |
| 样品室尺寸 | 直径300毫米×150毫米（高） |
| 试料室氛围囲気 | 大气（真空：可选） |
| 电脑 | 操作系统：Windows®7 LCD 显示屏彩色打印机 |
| 软件 | RoHS分析：塑料五元素分析、金属材料五元素分析、分析结果报告创建一般分析：体FP法、薄膜FP法、校准曲线创建 |
| 维护ソfutoウェia | 设备校准软件 JSX starter |
| 付属试料 | 能量校准样品RoHS元素含量检查样品强度校准样品 |
Windows 是 Microsoft Corporation 在美国、日本和其他国家/地区的注册商标或商标。
申请
与 JSX-3400RII 相关的应用
更多信息
