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天游线路检测中心 [已售完] JPS-9200 光电子能谱系统 (XPS)

已售完

JPS-9200 光电子能谱仪 (XPS)

此产品不再可用。

如果您想了解有关您所需产品的最新信息或替代产品的更多信息,请参阅下面的链接。感谢您对我们产品的持续惠顾。

面向通用分析的高灵敏度光电子能谱仪,分析范围从30μmφ到3mmφ。

功能

微型离子枪

这是一款高精度离子蚀刻枪,采用JEOL独特的光电技术。由于蚀刻区域很窄,因此可以对同一样品进行重复测量。

混合输入透镜系统

不是聚焦X射线,而是可以任意改变检测区域,从而可以进行从微小区域到高区域的通用分析,而无需担心样品损坏。

用于表面分析的数据分析软件

除了传统的波形分离方法之外,我们还采用了一种新的波形分离算法,该算法使用使用 XPS 和 AES 标准光谱库的真实光谱。这使得操作员无需设置需要经验的复杂参数,即使是初学者也能分析复杂的化学键状态。

规格/选项

光谱分辨率和强度
标准 X 射线源
Ag3d5/2光电子峰,由 MgKα 射线激发(300 W 转换)
分析直径是通过线扫描刀口显示 16% 和 84% 强度的距离。
分析直径 09 eV 115 eV
超过 900,000 cps 超过 1,800,000 cps
1mmφ 超过 480,000 cps 超过 900,000 cps
02mmφ 超过 50,000 cps 超过 100,000 cps
003mmφ 超过 1,500 cps 超过 3,000 cps
标准 X 射线源(铝镁双靶)
最大负载镁500W,铝600W
单色 X 射线源
Ag3d5/2光电子能谱,用单色 AlKα 辐射激发(600 W 等效)
强度 (cps) 超过 100,000 cps
分辨率 (eV) 065 eV
入射透镜 具有集成视场和角度限制光圈的磁场/电场型输入镜头
探测器 多通道检测器
能量扫描 0~1480 eV
CAE方法 路径能量:5~200 eV
CRR方法 ΔE/E 015~05%
标准样品形状 10毫米×10毫米,厚度2毫米以内
最多可同时安装6个
分析位置最多可设置20个点
对于大样本 最大90mmφ,厚度15mm以内
移动范围示例 X:0至50毫米,Y:0至18毫米,Z:-2至2毫米,T:-10至10°
排气系统 包括自动排气烘烤序列
主泵 200L/s离子泵
辅助泵 1600L/s升华泵
真空监视器 裸离子计
烘烤机制 内置内部加热器
分析室真空度 7×10-8

应用

与 JPS-9200 相关的应用

更多信息

JEOL设备简介

关于JEOL主要产品的机理和应用
易于理解的解释。

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