天游线路检测中心 JPS-9200应用数据介绍(4)：TRXPS测量示例

全反射X射线光电子能谱(TRXPS)由于照射的X射线的穿透深度较浅，因此具有比传统XPS更高的表面灵敏度和更低的光谱背景等优越特性，可用于表面超痕量状态分析、薄膜材料表面多层的化学键状态、岛状生长、膜厚度等。对于分析界面条件非常有效。我们将展示应用 TRXPS 方法分析薄膜材料表面多层化学键状态的结果。