功能
闪电般的速度：天游ty8检测中心 系统的切换时间快于 20 ns。
独立强度调整：通过以可变脉冲宽度快速打开和关闭光束，天游ty8检测中心 可以轻松调整平均光束强度，而无需改变图像条件。桌面附件旋钮提供了直观的界面来调整剂量衰减系数。
剂量结构：用户可以通过在脉冲中施加剂量来控制照明，脉冲的可变持续时间短至 100 ns，频率高达 500 kHz。
现代控制软件：天游ty8检测中心 开箱即用，可用作快速光束消隐器。随附的控制软件可用于可编程剂量衰减、记录等。
集成：天游ty8检测中心 充当快速可靠的预采样光束消隐器，同时支持配套的相对论子框架系统以及第三方硬件。
脉冲束 TEM 照明*
脉冲光束 STEM 照明*
在 300 kV 的高分辨率 STEM 中使用 Si[110]，在 19 μs/像素（1,024 x 1,024 像素）的像素驻留时间条件下，通过在 20 秒内获取一张 STEM 图像期间将持续时间比率从 90% 更改为 50%，通过频率为 500 kHz (2 μs) 的脉冲照明进行剂量衰减。
规格/选项
快速光束消隐
| 数量 | 值 |
|---|---|
| 最大脉冲频率 | 500kHz |
| 过渡时间 90%-10% | 20 ns |
| 消隐信号 | 3 个输入 |
剂量衰减
| 配置 | 天游ty8检测中心 基础 |
|---|---|
| 应用 | TEM 和 STEM 成像 |
| 脉冲重复频率（最大） | 500kHz |
| 脉冲宽度增量 | 625 纳秒 |
| 最小脉冲宽度 | 125 纳秒 |
天游ty8检测中心 选项
| EDS 真实面扫描 | 具有 天游ty8检测中心 同步功能的 天游ty8检测中心 可编程扫描 |
适用型号：JEM-ARM300F2、JEM-ARM200F(CFEG)、NEOARM(CFEG)、JEM-F200(CFEG)、JEM-3300、JEM-Z200FSC、JEM-Z200CA
图库
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使用 天游ty8检测中心 进行时间分辨 DPC 成像
静电剂量调制器 (天游ty8检测中心) 使 TEM 的频闪测量变得简单1。2安装在 Hummingbird Scientific 偏压样品架的芯片上。期间每
通过改变曝光脉冲的延迟时间，可以在不同的温度下测量样品TM微型或其他在样本中产生可重复动态的系统。
来自 SiC MOS 电容器的 tr-DPC 测量的选定图像。通过光束在每个探头位置的偏转来观察样品中的场。图像顶行中的强度显示了该偏转的幅度，颜色指示了方向。这些的分歧表示电荷密度，并由采集软件自动计算（图像的底行）。场集中在 SiC（左）和 Al（右）之间的氧化物界面处。在 t = 15 μs 时，偏置电压穿过零伏，并且磁场改变极性。
1。测量条件：仪器JEM-F200，加速电压200 kV，STEM Lorenz模式，停留时间50微秒，像素数512×512。简化了实验设置图。有关详细配置信息，请咨询当地的 JEOL 销售办事处。
2。样品是由 Al、SiO 制成的 MOS 电容器2，以及n型SiC，200 nm厚，由富士电机有限公司提供
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具有 天游ty8检测中心 同步功能的可编程 STEM控制每个像素的剂量。
静电剂量调制器 (天游ty8检测中心) 是一种快速光束消隐系统，带有预采样静电偏转器，包括电子设备和软件控制。 天游ty8检测中心 还可以减弱电子照明而不影响成像条件，使 TEM 和 STEM 用户能够更好地控制样品的剂量。可选同步升级将 天游ty8检测中心 的定时和同步功能提升到一个新的水平。 Synchrony 可以与 STEM 控制器协调，在扫描样品时跟踪探测光束的位置。 天游ty8检测中心 快如闪电的静电消隐可在每个像素处将光束打开指定时间，或保持光束消隐以完全排除剂量敏感区域。
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