显微分析 HYPER PROBE
配备场发射（FE）高强度电子枪的最新EPMA。短时间内实现极小面积、极微量的元素分析。场发射电子探针微量分析仪
功能
目前销售的后继型号是 JXA-8530F。
JXA-8500F是一款高分辨率型号，配备全新开发的FE电子枪、电子光学系统、真空排气系统等
高性能场发射电子探针显微分析仪。 FE 电子枪创建的超细探针可在低加速电压下的一系列分析辐射电流下实现亚微米分析分辨率和高灵敏度 X 射线微量元素检测。
规格/选项
| 分析元素范围 | 5B〜92U（4Be〜※1） |
|---|---|
| X射线光谱范围 | 0087 至 93nm |
| X射线光谱仪的数量 | 选择 1 到 5 个单位（所有光谱仪：扫描仪类型） |
| 最大样本量 | 100mm×100mm×50mm（高）※2 |
| 最大分析区域 | 90毫米×90毫米※2 |
| 样品台最大驱动速度 | 15毫米/秒※2 |
| 加速电压 | 1 至 30 kV（01 kV 步长） |
| 辐照电流范围 | 1 × 10-11～ 5 × 10-7A |
| 辐照电流稳定性 | ±05%/小时 |
| 二次电子图像分辨率 | 3nm（WD11mm，30kV） |
| 分析条件最小探头直径 | 40nm（10kV，1×10－8A)100nm（10kV，1×10－7A) |
| 申请 | 专家定性分析、定量分析、半定量分析、校准曲线分析、线分析、面积分析、连续自动分析、复合图分析、微型显示、文件搜索等 |
：安装了用于 Be 光谱的可选光谱元件时。
：根据样品台选择而变化。
外观和规格如有更改，恕不另行通知。
申请
与 JXA-8500F 相关的应用
使用配备新型波长色散软X射线发射光谱仪的电子探针微量分析仪进行元素分析和状态分析
对于观察和分析石棉纤维很有用！ ：JXA-8500F、JXA-8100
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