天游线路检测中心 冷冻 FIB/TEM 工作流程简介
发布日期：2023/12/28
冷冻透射电子显微镜 (TEM) 是一种通过快速冷冻在保留样品分子形态的同时进行观察的方法，但近年来，不仅使用单颗粒分析的高分辨率蛋白质结构分析，而且使用体内样品的电子断层扫描的结构分析也受到关注。然而，当对细胞和真菌等大样本进行冷冻TEM观察时，需要将样本切割得足够薄以允许电子束通过。这次，我们将介绍使用冷冻FIB在冷冻状态下切割样品并进行冷冻TEM观察的工作流程。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
关于使用通用设备的冷冻 FIB/TEM 工作流程。
关于使用专用机器的冷冻 FIB/TEM 工作流程。
关于与光学显微镜关联的冷冻 CLEM 工作流程。
想要参与的客户
参与药物发现领域的研究和开发的人
在结构生物学领域进行研究的人
从事生物学领域研究的人
扬声器
细木直树
日本电子有限公司S规划推进总部Cryo 应用支持小组
日期/详细信息
2024 年 2 月 6 日星期二 16:00-17:00
讲座结束后将有时间进行问答。
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演示材料
您可以在讲座结束后填写调查问卷来下载。
参与费
免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。）
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