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天游线路检测中心 通用TEM的MicroED采集方法及应用

发布日期:2023/06/08

MicroED 是一种通过分析单晶样品的连续倾斜电子衍射图案来获得三维结构的方法。近年来,探测器性能的改进使得可以用低电子照射剂量获得电子衍射图案,从而可以分析对电子束照射敏感的低分子化合物的结构。在本次演讲中,我们将介绍使用通用 TEM 的 MicroED 采集方法和应用。

本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络,您不仅可以通过计算机参与,还可以通过智能手机或平板电脑参与。
我们期待您的参与。

您可以从本次网络研讨会中学到什么

  • MicroED/3DED 原理

  • 如何获取 MicroED/3DED

想要参与的客户

  • 进行X射线结构分析的人

  • NMR 用户

扬声器

青山义明

EM 业务部
EM应用部

日期/详细信息

  • 2023 年 7 月 14 日星期五 16:00-17:00

  • 讲座结束后将有时间进行问答。

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演示材料

您可以在讲座结束后填写调查问卷来下载。

参与费

免费(按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。)

如何申请

网络研讨会已经结束。

该视频现已发布,请在下面申请。

联系我们

日本电子有限公司
需求促进总部网络研讨会秘书处
sales1[at]jeolcojp

  • 请将[at]更改为@。

视频

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使用通用TEM的MicroED采集方法和应用

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