天游ty8检测中心联动 CLEM - miXcroscopy™ 光学显微镜/扫描电子显微镜联动系统 -
功能
通过共享光学显微镜和扫描电子显微镜的样品架，并通过专用软件管理天游ty8检测中心信息，系统可以存储光学显微镜观察到的区域，并进一步放大与扫描电子显微镜相同的视野以进行精细结构观察。现在可以用扫描电子显微镜无缝观察观察目标，而不会用光学显微镜错过观察目标，使光学显微镜图像与扫描电子显微镜图像之间的对比验证更加顺畅和轻松。
系统概述
兼容型号扫描天游ty8检测中心显微镜：JSM-IT800HL、JSM-IT800SHL天游ty8检测中心探针微量分析仪：JXA-iSP100、JXA-iHP200F
添加颜色信息更直观的观察和数据获取
通过将SEM观察无法获得的来自光学显微镜的颜色信息添加到SEM图像中，可以提供更直观的视觉效果。
样品：彩色激光打印机打印面单个墨粉颗粒的颜色可以通过重叠的 OM 和 SEM 图像来识别
利用光学显微镜的功能进行平滑的位置识别
通过光学显微镜观察，您可以顺利地识别SEM观察难以识别的结构的位置。
示例：矿物部分仅用彩色图像难以看到的观察位置的附加SEM观察
防止天游ty8检测中心束损坏样品
为了防止天游ty8检测中心束的损伤和污染，可以使用光学显微镜预先确定观察位置，并且可以用最少的天游ty8检测中心束照射进行SEM观察。
应用示例：使用蒙太奇构建大容量图像数据
