天游ty8检测中心变色分析
MP2020-04
由于类似的电极排列在卡缘板上，因此很难使用SEM找到与使用光学显微镜（LM立体显微镜）发现的天游ty8检测中心区域相同的视野。通过使用 CLEM 将天游ty8检测中心区域的光学图像和 SEM 图像叠加，您可以可靠地识别天游ty8检测中心区域并快速评估颜色和成分之间的关系。
光学显微镜图像联动软件*将天游ty8检测中心区域与SEM图像匹配，然后放大观察。
*光学显微镜图像联动软件这是在 SEM 操作屏幕上将预先获得的 LM 图像叠加到 SEM 实时图像上的软件。
使用光学显微镜（立体显微镜）对天游ty8检测中心上的变色区域进行EDS分析，结果确认了变色区域中S和Cu的不均匀分布。
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