天游ty8线路检测中心 JMS-S3000“SpiralTOF™”在混合导电和非导电基底上进行成像质谱

天游ty8线路检测中心表面分析仪评估工业材料时，可以获得元素、键合状态和官能团等信息，但能够分析有机化合物的分子量和分子结构信息的方法很少。基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱 (MALDI-TOFMS) 可以轻柔地电离有机化合物，从而通过精确的质量测量来估计成分，天游ty8线路检测中心 MS/MS 获取结构信息，并天游ty8线路检测中心成像质谱 (MSI) 进行绘图。
However, in MALDI-TOFMS, a high voltage is applied to the target plate that holds the sample, and ions are accelerated by the potential difference with ground potential因此，目标板必须是导电的，对于一般测量，天游ty8线路检测中心不锈钢板。 With the advancement of MSI technology using MALDI, methods for analyzing organic substances on the surface of frozen tissue sections have also become popular在这种情况下，将约 10 μm 厚的冷冻组织切片放置在用氧化铟锡膜制成导电的载玻片上。 However, in the analysis of industrial products, organic substances on non-conductive substrates such as resins with a thickness of millimeter may be analyzed If a non-conductive substrate surface is measured by MALDI-TOFMS without pretreatment, the charge-up will cause a decrease in resolution and a significant decrease in ionic strength This problem can be solved by adding conductivity to the non-conductive area where the measurement target is located using gold vapor deposition [1] In this report, we will report on the application of this method to the measurement of organic substances on a substrate with a mixture of conductive and non-conductive parts When gold evaporation was not performed, ions were observed only from the conductive parts, but with gold evaporation, ions could be observed from both the conductive and non-conductive parts, and it was confirmed that they could be mapped appropriately

实验

作为混合导电和非导电部分的模型基板，我们天游ty8线路检测中心具有交替金属图案的 1 毫米厚石英玻璃基板（Au 100 nm 厚/Cr 30 nm 厚）。在创建的图案中，导电部分和非导电部分以 400 μm 的间隔交替排列（图 1）。天游ty8线路检测中心无需天游ty8线路检测中心基质即可电离主要成分的红色油基笔作为测量样品。首先，用红色油基记号笔在模型板上写下字母“MS”，使其横跨导电和非导电部分。模型基板和不锈钢靶板用导电胶带固定（图2）。首先，MSI 测量是在没有金沉积的情况下进行的。然后，对同一样品进行金蒸镀，再次进行MSI测定。所有 MSI 测量均在 SpiralTOF 正离子模式下进行。像素尺寸为50μm，每个像素进行50次激光照射以获得质谱。

图。 1模型基板方案。
导电部分和非导电部分交替制作在石英玻璃上。

图。 2将模型基板用导电胶带固定在目标板上。

结果

图。图3显示了没有金沉积时的MSI测量结果。左上是光学图像，条纹图案的黑色部分是导电部分。右上为罗丹明B(C₂₈H₃₁N₂O₃⁺) 这是原始离子的质量图像。虽然很难从质量图像中读取字母“MS”，但当与光学图像叠加时，可以看出只能从导电部分检测到离子。图 4 显示了天游ty8线路检测中心两个 ROI（感兴趣区域）创建的质谱图：两个导电部分 (ROI1、3) 和两个非导电部分 (ROI2、4)。该峰是源自罗丹明 B 的离子m/z443(C₂₈H₃₁N₂O₃⁺) 的单同位素峰。从非导电区域的ROI 2和4几乎观察不到离子，即使在检测到离子的ROI 1和3中，分辨率也比稍后描述的金气相沉积的情况低，这被认为是由于充电的影响。当以这种方式在具有非导电和导电区域混合的基板上进行 MSI 测量而无需金蒸发时，由于充电的影响，无法从非导电区域检测到离子，给出的结果就好像目标化合物不存在于该位置一样。

图。 3未沉积金的MSI测量结果。

图。 4 模型基板上未沉积金的导电部分（ROI1 和 3）和非导电部分（ROI2 和 4）的 ROI 质谱

接下来，金蒸发后，再次进行MSI测量，结果如图5所示。左上是与图3相同的光学图像，右上是来自主要成分罗丹明B（C₂₈H₃₁N₂O₃⁺)的质量图像，并且可以读取字母“MS”。当两者叠加时，可以看到导电部分和非导电部分都检测到了离子。图 6 显示了两个位置的 ROI（感兴趣区域）质谱，一处位于导电区域，另一处位于非导电区域。观察到的峰是罗丹明 B(C₂₈H₃₁N₂O₃⁺)的单同位素离子部分。与没有金气相沉积的情况不同，在非导电区域中的 ROI 2 和 4 中也可以观察到离子。此外，在所有区域中都实现了高分辨率，并且认为充电的影响足够小。

图。 5金沉积的MSI测量结果。

图。 6 沉积有金的模型基板上的导电部分（ROI1 和 3）和非导电部分（ROI2 和 4）的 ROI 质谱。

摘要

如上所述，当目标化合物同时存在于基板上的导电部分和非导电部分时，在按原样进行 MSI 测量时需要小心，因为它们会受到充电的影响。如果在非导电部件中未观察到离子，则可能会误认为该部件中不存在目标化合物。
发现通过应用金气相沉积使样品表面导电，可以显着改善这个问题。

参考文献

[1] MSTips No 251 天游ty8线路检测中心 JMS-S3000“SpiralTOF™”分析亚克力板上的有机化合物

点击此处查看此页面的可打印 PDF。
点击打开新窗口。

PDF 116MB