JED-2300T AnalysisStation 是一种元素分析系统，可以无缝执行从观察到分析的所有操作。
分析站™这是一个基于“以图像为中心的观察、分析和融合系统”基本概念的TEM/EDS集成系统。电子显微镜主机的倍率、加速电压等参数与分析数据一起自动收集，并对数据进行管理。
功能
硅漂移探测器（以下简称SDD）共有三种类型：探测面积为30mm2、60mm2、100mm2。检测面积越大，检测灵敏度越好。 JEM-ARM200F（HRP）与干式SD100GV探测器（检测面积100mm2）的组合，实现了大光接收面积和高分辨率，可以清晰识别“B、C、N、O”等轻元素。
样品：碳支撑膜上的 BN 颗粒
快速元素地图
高灵敏度干式 SD100GV 检测器可在短短 1 分钟的测量时间内检测到金催化剂颗粒。
负载在氧化钛上的金催化剂颗粒样品设备JEM-ARM200F + 干式SD100GV探测器测量时间：约1分钟探头电流1nA像素数 256x256 像素
原子分辨率图
Sr和Ti原子柱清晰分离。
样品SrTiO3100>设备JEM-ARM200F+干式SD100GV探测器测量时间：约10分钟探头电流1nA像素数 128x128 像素
回放
JEOL的EDS收集的元素图保存了每帧的每个像素的光谱，并且还保存了每帧的电子束图像。通过使用“回放”功能，可以从多个角度进行分析，例如观察光谱随时间的变化等。测量后可以回放数据，从而可以观察样品随时间的变化，这在以前是不可能的。您还可以在播放过程中剪切任何帧。 （正在申请专利）
设备JEM-2800+干式SD100GV探测器岩盐样品像素数 128x128提取帧398帧
规格/选项
I：标准模型，II：地图模型
| 功能 | I | 二 | ※注 | |
|---|---|---|---|---|
| 个人电脑 | 操作系统 Microsoft® Windows® XP 或更高版本多用户支持 | |||
| 操作菜单 | 日语/英语 | |||
| 探测器 | 从探测器列表中选择 | |||
| 光谱分析 | 定性/定量分析（TEM 薄膜定量方法 | ● | ● | |
| 光谱分析 | 视觉峰 ID (VID) | ● | ● | |
| 光谱分析 | 薄膜样品分析 | ● | ● | |
| 光谱分析 | 化学类型分类和 QBase（定性分析数据库、光谱匹配） | ● | ● | |
| 光谱分析 | 实时显示计数率和死区时间 | ● | ● | |
| 报告创建 | 一键报告 | ● | ● | |
| 报告创建 | 微笑视图 | ● | ● | |
| 报告创建 | 以 Microsoft® Word、PowerPoint® 格式输出 | ● | ● | |
| 集成 | 自动获取测量条件（倍率、加速电压） | ● | ● | 1 |
| 帮助功能 | 分析协助 | ● | ||
| 分析站 | 从 EDS 监视器开始分析（指定采集图像上的任意分析位置） | ● | ||
| 线路分析 | 谱线分析/定量谱线分析 | ● | ||
| 线路分析 | 广域线路剖面 | ● | ||
| 元素图 | 元素图（3基色显示，探针跟踪） | ● | ||
| 元素图 | 高清图像（电子显微镜图像和元素图图像均为 4096 x 3072 像素） | ● | ||
| 元素图 | 弹出频谱 | ● | ||
| 元素图 | 定量地图 | ● | ||
| 元素图 | 残差图 | ● | ||
| 元素映射 | 播放 | ● | ||
| 元素图 | 散点图（2元/3元） | ● | ||
| 探针跟踪*（漂移校正） | ● | 2 | ||
| 创建用户标准 | ● | ● | ||
| 摆动鼠标 | 用一台鼠标和键盘操作两台电脑（SEM&EDS） | ○ | ○ | 1 |
| 离线分析 | 允许在设备以外的计算机上进行数据分析的许可软件 | ○ | ○ |
只有当电子显微镜单元连接到计算机时才可能实现。
[专利号3950581]
Windows 是 Microsoft Corporation 在美国和其他国家/地区的注册商标或商标。
申请
与 JED-2300T 相关的应用
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