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[已售完] JSM-7000F 场发射扫描天游8线路检测中心显微镜

已售完

JSM-7000F 场发射扫描天游8线路检测中心显微镜

使用高功率光学器件进行纳米结构 FE SEM 分析

こちらの制品は贩売终了しております。

如果您想了解有关您所需产品的最新信息或替代产品的更多信息,请参阅下面的链接。感谢您对我们产品的持续惠顾。

高功率光学器件可以获得高达200nA的大电流,即使在天游8线路检测中心束能量较低且引出大电流时,也可以获得较小的探针直径。可以观察表面的纳米结构,并在几个 10 nm 范围内进行 EDS 分析。
天游8线路检测中心枪是全自动的,可以轻松设置最佳条件。物镜孔径允许以最小孔径进行高倍率观察的 EDS 分析和 EBSD 分析。计算机控制的Eucentric大样品台和在简单的操作屏幕上显示的高清数字实时图像确保了操作的舒适性。

规格/选项

分辨率 12nm
加速电压 05~30kV
放大倍数 ×10~500,000
尺寸示例 150mmφ
机芯示例 X方向:70mm Y方向:50mm
(电机驱动/手动可用)
Z方向:3至41mm,倾斜:-5°至70°
旋转:360°无限(电机驱动)

阿普里克森

JSM-7000Fに关するeapurikeshon

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