ty8天游官网登录 使用最新的 FE-SEM JSM-IT810 实现半导体分析
~长度测量、缺陷分析、材料评估的最前沿~

发布日期：2026/01/27

随着半导体器件不断变得更小，缺陷分析、材料评估和长度测量需要更高分辨率和稳定的观察。 JSM-IT810是一个满足评估现场需求的平台，包括高分辨率观察、与各种分析技术的兼容性以及长度测量精度的管理。在本次网络研讨会中，我们将解释半导体分析的SEM分析方法，并介绍使用JSM-IT810提供的自动功能的观察示例以及使用外壳的环境措施。

本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。我们期待您的参与。

您可以从本次网络研讨会中学到什么

• 半导体器件评估中的基本 SEM 分析方法

• SEM 在长度测量、缺陷分析和材料评估中的使用示例

• JSM-IT810支持质量控制和缺陷分析的主要功能

想要参与的客户

• 想要使用 SEM 进行半导体器件的长度测量、缺陷分析和材料评估的人

• 对于评估和分析部门中在管理观测稳定性和测量精度方面遇到问题的人员

• 对SEM自动化和效率提升感兴趣并希望扩大设备利用范围的人

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扬声器	植竹佑介 日本电子有限公司 SI事业部 EP事业部 EP应用部
活动日期	2026 年 4 月 10 日（星期五）16:00 - 17:00
参与费	免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。）
演示材料	您可以在讲座结束后填写调查问卷来下载。
讲座录音	稍后录制讲座网络研讨会档案 发帖时电子邮件杂志和SNS，所以请注册/关注我们。
问答	讲座结束后将有时间进行问答。 如果您有任何疑问，请在报名表的预先提问部分填写，或在讲座当天使用 Zoom 上的问答功能。
查询	日本电子有限公司 需求促进总部 sales1[at]jeolcojp 请将[at]更改为@。

如何申请

请在下面申请。

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• 网络研讨会将在 Zoom 上举行。 Zoom有测试会议功能，因此我们建议首次使用的用户进行测试。请参阅“单击此处测试 Zoom”。

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