天游线路检测中心 使用 SEM-EDS 进行无故障的元素分析 ~介绍测量的基础知识和技巧 ~

发布日期：2026/01/20

SEM-EDS是一种有用的分析方法，可以在缺陷分析和异物研究中同时获得微观结构和元素信息。另一方面，为了获得准确的数据，必须优化测量条件，这也是很多人遇到的困难。在本次网络研讨会中，我们将以易于理解的方式解释EDS元素分析中的加速电压、照射电流和测量时间等基本条件设置的概念，以及获得高效、可靠数据的诀窍，并结合实例。

本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。我们期待您的参与。

您可以从本次网络研讨会中学到什么

• EDS分析中如何选择加速电压、照射电流、测量时间等测量条件

• 实际 EDS 分析测量示例及测量技巧

• 您应该牢记的 JEOL EDS 有用功能

想要参与的客户

• 对于那些计划进行元素分析的人

• 那些在确定元素分析条件时遇到困难的人

• 从事分析服务的人员

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扬声器	平井隆之 日本电子有限公司 SI事业部 EP事业部 EP应用部
活动日期	2026 年 3 月 13 日（星期五）16:00 - 17:00
参与费	免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。）
演示材料	讲座结束后填写调查问卷即可下载。
讲座录音	稍后录制讲座网络研讨会档案 发帖时电子邮件简讯和SNS，所以请注册/关注我们。
问答	讲座结束后将有时间进行问答。 如果您有任何疑问，请在报名表的预先提问部分填写，或在讲座当天使用 Zoom 上的问答功能。
查询	日本电子有限公司 需求促进总部 sales1[at]jeolcojp 请将[at]更改为@。

如何申请

本次研讨会的报名已结束。非常感谢您的多次申请。