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ty8天游官网登录 使用 SEM-EDS 进行无故障的元素分析 ~介绍测量的基础知识和技巧 ~

发布日期:2026/01/20

SEM-EDS是一种有用的分析方法,可以在缺陷分析和异物研究中同时获得微观结构和元素信息。另一方面,为了获得准确的数据,必须优化测量条件,这也是很多人遇到的困难。在本次网络研讨会中,我们将以易于理解的方式解释EDS元素分析中的加速电压、照射电流和测量时间等基本条件设置的概念,以及获得高效、可靠数据的诀窍,并结合实例。

本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络,您不仅可以通过计算机参与,还可以通过智能手机或平板电脑参与。我们期待您的参与。

您可以从本次网络研讨会中学到什么

  • EDS分析中如何选择加速电压、照射电流、测量时间等测量条件

  • 实际 EDS 分析测量示例及测量技巧

  • 您应该牢记的 JEOL EDS 有用功能

想要参与的客户

  • 对于那些计划从现在开始进行元素分析的人

  • 那些在确定元素分析条件时遇到困难的人

  • 从事分析服务的人员

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平井隆之

日本电子有限公司
SI事业部 EP事业部 EP应用部

活动日期

2026 年 3 月 13 日星期五 16:00 - 17:00

参与费

免费(按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。)

演示材料

您可以在讲座结束后填写调查问卷来下载。

讲座录音

稍后录制讲座网络研讨会档案
发帖时电子邮件杂志和SNS,所以请注册/关注我们。

问答

讲座结束后将有时间进行问答。
如果您有任何疑问,请在报名表的预先提问部分填写,或在讲座当天使用 Zoom 上的问答功能。

查询

日本电子有限公司
需求促进总部
sales1[at]jeolcojp

  • 请将[at]更改为@。

如何申请

请在下面申请。

  • 请参阅 PDF,了解有关如何注册和参与的详细信息。

  • 网络研讨会将在 Zoom 上举行。 Zoom有测试会议功能,因此我们建议首次使用的用户进行测试。请参阅“单击此处测试 Zoom”。

  • 请注意,我们可能会拒绝参赛者注册。

 

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