天游线路检测中心 JEM-ARM200F中Tilt-Scan功能的开发及其应用
发布日期：2025/07/24
DPC-STEM 方法使用分裂检测器来可视化样品的电场和磁场分布，近年来变得流行。另一方面，众所周知，源自结晶度的对比度叠加在 DPC-STEM 图像上，导致分析变得困难。
在本演示中，我们在 JEM-ARM200F 中添加了倾斜扫描功能，以降低 DPC-STEM 图像中的晶体对比度，并详细分析样品的电场和磁场分布。在这里，我们将演示TiltScan功能并介绍其应用示例。
本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。我们期待您的参与。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
倾斜扫描功能
DPC-STEM
想要参与的客户
材料 TEM 用户
对于使用分体式检测器的用户
相关产品
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扬声器 |
安原聪 日本电子有限公司SI事业部EM事业部EM应用部 
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活动日期 |
2025 年 9 月 12 日星期五 16:00 - 17:00 |
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参与费 |
免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。） |
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演示材料 |
不会分发演示材料。 |
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讲座录音 |
讲座录音稍后不会发布。 |
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问答 |
讲座结束后将有时间进行问答。如果您有任何疑问，请在报名表的预先问题部分填写，或在讲座当天使用 Zoom 上的问答功能。 |
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查询 |
日本电子有限公司需求促进总部sales1[at]jeolcojp
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如何申请
请在下面申请。
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网络研讨会将在 Zoom 上举行。 Zoom有测试会议功能，因此我们建议首次使用的用户进行测试。请参阅“单击此处测试 Zoom”。
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