天游线路检测中心 SEM × XRF 协作研讨会 ~ 介绍从筛选到详细分析的分析示例！ ～
发布日期：2025/06/03
近年来，质量控制需要快速且高精度的分析。分析方法之一是扫描电子显微镜（SEM）和X射线荧光分析（XRF）。 SEM利用电子束获取局部信息，XRF利用X射线获取平均信息。通过结合使用这些技术，可以实现高效可靠的分析。
在本次网络研讨会中，我们将介绍 SEM 和 XRF 的特点和用途，以及使用实际设备的测量示例。
本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。我们期待您的参与。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
使用台式 SEM 和最新自动测量系统进行无损筛选分析
XRF 无损筛选测量
SEM-EDS 和 XRF 之间的区别
想要参与的客户
希望提高 SEM 运营效率的人
对于使用 SEM 和 XRF 的用户
从事分析服务的人员
扬声器
中岛香织
日本电子有限公司SI销售总部SI促销办公室
村谷直树
日本电子有限公司SA 业务部门SA技术开发部
活动日期
2025 年 7 月 4 日星期五 14:00 - 14:35
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讲座录音
稍后我会发布讲座录音。发帖时我们公司电子显微镜邮件杂志和社交网络服务。
参与费
免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。）
如何申请
网络研讨会已经结束。图书馆提供讲座视频。您可以通过下面的申请观看。
联系我们
日本电子有限公司需求促进总部网络研讨会秘书处sales1[at]jeolcojp
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视频
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