天游线路检测中心 JEOL 有关阵列断层扫描的新信息
发布日期：2025/02/25
我们将介绍使用SEM拍摄超薄切片样品的基本知识以及Array Supporter的省时功能。
本次研讨会反响热烈，将于 2025 年 1 月 17 日星期五举行“JEOL 阵列断层扫描的新信息”讲座内容与上次相同。我们将在讲座结束后接受提问，因此如果您有任何问题或疑问，请随时加入我们。
如果您拥有可以连接到网络的环境，那么您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。我们期待您的参与。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
用SEM观察超薄切片样品的基础知识
阵列断层扫描的基础知识
阵列断层扫描的省时技术
想要参与的客户
对于那些观察生物样本的人
对于那些对阵列断层扫描感兴趣的人
对于那些对 Volume EM 感兴趣的人
日期/详细信息
2025 年 3 月 25 日（星期二）16:00 - 17:00
讲座结束后将有问答环节。
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参与费
免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。）
演示材料
讲座结束后填写调查问卷即可下载。
讲座录音
稍后我会发布讲座的录音。发帖时我们公司电子显微镜邮件杂志和社交网络服务。
计划
| 时间 | 标题摘要 | 扬声器 |
|---|---|---|
| 16：00～16：25 | 阵列断层扫描的基础知识～超薄切片样品SEM与TEM图像对比～ 阵列断层扫描使用 SEM 对安装在晶圆上的超薄切片进行成像。作为使用 SEM 获取类似 TEM 图像的基础知识，我们将介绍图像形成原理以及 SEM 和 TEM 图像之间实际外观的差异。 | 日本电子有限公司解决方案开发中心解决方案规划办公室春田智宏
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| 16：25～16：50 | 利用SEM阵列断层扫描提高大容量数据采集的效率 SEM 阵列断层扫描可实现高分辨率的 3D 分析，从而可以在整个组织的大范围内观察细胞器。因此，我们有时会获取超过 1000 个部分的大量数据。我们将介绍使用为自动观察 SEM 阵列断层扫描的连续切片而开发的软件“Array Tomography Supporter”在短时间内高效地获取数据的示例。 | 日本电子有限公司解决方案开发中心解决方案规划办公室铃木克之
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| 16：50～ | 问题与解答 |
*计划如有更改，恕不另行通知。感谢您提前的理解。
如何申请
请在下面申请。
请参阅 PDF，了解有关如何注册和参与的详细信息。
网络研讨会将在 Zoom 上举行。 Zoom有测试会议功能，因此我们建议首次使用的用户进行测试。点击此处了解详情。
请注意，我们可能会拒绝参赛者的注册。
联系我们
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