天游线路检测中心 JEOL 有关阵列断层扫描的新信息
发布日期：2024/12/17
继去年广受欢迎的网络研讨会之后，我们今年还将举办一场有关阵列断层扫描的网络研讨会。
今年，我们将以“JEOL 阵列断层扫描的新信息”为标题，介绍使用 SEM 拍摄超薄切片样品的基本知识。阵列断层扫描支持器的省时功能。
本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。我们期待您的参与。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
用SEM观察超薄切片样品的基础知识
阵列断层扫描的基础知识
阵列断层扫描的省时技术
想要参与的客户
对于那些观察生物样本的人
对于那些对阵列断层扫描感兴趣的人
对于那些对 Volume EM 感兴趣的人
日期/详细信息
2025 年 1 月 17 日（星期五）16:00 - 17:00
讲座结束后将有问答环节。
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演示材料
您可以在讲座结束后填写调查问卷来下载。
参与费
免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。）
程序
| 时间 | 标题摘要 | 扬声器 |
|---|---|---|
| 16：00～16：25 | 阵列断层扫描的基础知识～超薄切片样品SEM与TEM图像对比～ 阵列断层扫描使用 SEM 来拍摄安装在晶圆上的超薄切片。作为使用 SEM 获取类似 TEM 图像的基础知识，我们将介绍图像形成原理以及 SEM 和 TEM 图像之间实际外观的差异。 | 解决方案开发中心解决方案规划办公室生命科学团队春田智宏
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| 16：25～16：50 | 利用SEM阵列断层扫描提高大容量数据采集的效率 SEM 阵列断层扫描可以进行高分辨率的 3D 分析，从而可以在整个组织的大范围内观察细胞器。因此，我们有时会获取超过 1000 个部分的大量数据。我们将介绍使用为自动观察 SEM 阵列断层扫描的连续切片而开发的软件“Array Tomography Supporter”在短时间内高效地获取数据的示例。 | 解决方案开发中心解决方案规划办公室CLEM 集团铃木克之
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| 16：50～ | 问答 |
*计划如有更改，恕不另行通知。感谢您提前的理解。
如何申请
网络研讨会已经结束。讲座视频可作为存档使用。您可以通过下面的申请观看。
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日本电子有限公司需求促进总部网络研讨会秘书处sales1[at]jeolcojp
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视频
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